Fizika | Fénytan, Optika » Dr. Erdei Gábor - Az optikai tervezés alapjai órai jegyzet

Alkalmazott fizika MSc, I. évfolyam / 2 félév AZ OPTIKAI TERVEZÉS ALAPJAI – ÓRAI JEGYZET Összeállította: dr. Erdei Gábor, BME, AFT, 2005-2012 1. ÓRA Az előadások időtartama 3×45 perc CÉLKITŰZÉS Az optikai tervezés fogalom és modell rendszerének elsajátítása; leképező rendszerek szokásos minősítési módszereinek megismerése; fontos optikai leképező eszközök működésének áttekintése; optikai tervezőprogram lehetőségeinek megismerése és használatának alapszintű elsajátítása; leképező rendszerek specifikálása, konstrukciójának meghatározása, tervező programmal történő vizsgálata, a képminőség javítása automatizált optimalizációval. A gyártási hibák hatásának figyelembevétele; foglalás-technikai alapfogalmak megismerése; optikai gyártási rajzok értelmezése; anyag és alkatrész beszerezés lehetőségeinek megismerése; kész rendszerek visszafejtése (reverse engineering), jusztírozása. ELŐADÁS

TEMATIKA • Modellek, közelítések, összefüggések • A leképezés minősítésének módszerei • A tervezés menete, számítógéppel támogatott tervezés • Néhány leképező rendszer vizsgálata LABORGYAKORLAT TEMATIKA • Programhasználat • Lencserendszerek modellezése • Leképezési jellemzők • Lencserendszerek tervezése • Foglalási eljárások alapjai • Tűrésanalízis AJÁNLOTT IRODALOM • W. J Smith, „Modern Optical Engineering”, McGraw-Hill • J. W Goodman, „Introduction to Fourier Optics”, McGraw-Hill • M. Born, E Wolf, „Principles of Optics”, Cambridge University Press • Richter P., „Bevezetés a Modern Optikába I-II”, Műegyetemi kiadó • Zemax Corporation, „ZEMAX Manual” • Kalló P., „Optikai feladatgyűjtemény I-II” –1– TÁRGYKÖR DEFINIÁLÁSA • Leképező rendszerek (ld. még megvilágítórendszerek) tervezése és minősítése • Tengelyszimmetrikus rendszerek (ld. még „freeform”

felületek) • Törő vagy tükröző felületek (ld. még diffraktív és Fresnel-felületek, gradiens indexű) • „Sorrendi” fényterjedés (ld. még nemsorrendi sugárátvezetés) • Lencserendszerek ki-/bemenete, mechanikai környezete (ld. még termikus, vegyi hat) • Látható (optikai) hullámhossz tartomány (400-750 nm) AZ ELEKTROMÁGNESES SPEKTRUM TARTOMÁNYAI (vegyérték elektron-átmenettel kelthető ; λ0 – hullámhossz vákuumban) • Terahertz-sugárzás: 100-200 µm (TR) • Távoli infravörös: 8-12 µm (Far-IR) λC • Közepes infravörös: 3-5 µm (Mid-IR) λHeNe = 633 nm • Közeli infravörös: 0,75-1,5 µm (NIR) λd = 588 nm (He) • Látható: 400-750 nm (VIS) λe = 546 nm (Hg) • Közeli ultraibolya „A”: 320-400 nm (UVA) λF = 486 nm (H) • Közepes ultraibolya „B”: 280-320 nm (UVB) • Távoli ulraibolya „C”: 100-280 nm (UVC, Deep-UV) pl. 254 nm Hg (fénycső) pl. 193 nm ArF (50 nm LW) • Extrém távoli

ultraibolya: 10-100 nm (EUV) • Lágy Röntgen-sugárzás: 1-10 nm (Soft X-ray) • Kemény Röntgen-sugárzás: 0,1-1 nm (Hard X-ray) = 656 nm (H) ALAPFOGALMAK ÖSSZEFOGLALÁSA • hullámfront (azonos fázisú pontok által alkotott felület) • fénysugár (hullámfrontok ortogonális trajektóriái v. Poynting-vektor irány) • optikai úthossz (vákuumra redukált út ; OPL = n·d ; ∆φ = OPL · 2π / λ0 [rad] ) • időbeli koherencia (monokromatikus v. polikromatikus fény, esetleg impulzus) • térbeli koherencia (diffúz megvilágítás – definiálható-e hullámfront?) Időbeli koherencia: ∆ν ≈ 1/ τc ; ∆λ0 = ∆ν · λ02 / c Látható fényforrások: Gáz lézer: Szilárdtest lézer: Félvezető lézer: LED: ∆λ0 ~ 0,01 nm ∆λ0 ~ 0,1 nm ∆λ0 ~ 1 nm (+ hőmérsékleti ingadozás: 2 nm/10°C) ∆λ0 ~ 10 nm –2– Térbeli koherencia: A térbeli koherencia szerepe: véges kiterjedésű tárgy leképezése (képanalízis, MTF

számítás). Fázistárgy leképzése térben koherens fénnyel. Fekete vonalként jól látható a fázislépcsők határán fellépő destruktív interferencia. a Fázistárgy leképzése térben inkoherens fénnyel. A fázislépcsők határán fellépő destruktív interferencia láthatósága jelentősen romlott. c b d Amplitudótárgy (négyzet) leképezése térben koherens (c) és inkoherens fénnyel (d). Amplitudótárgy (fekete-fehér négyszög rács) leképezése térben koherens (a) és inkoherens fénnyel (b). Koherens megvilágítás esetén a határokon diffrakciós csíkok jelennek meg. Inkoherens esetben a kapott kép kb. szinuszos intenzitás eloszlású A leképezés minősőgére gyakorolt hatás szempontjából a térbeli koherencia relatív fogalom (Fraunhofer-diffrakció, szögspektrumra-bontás), mivel a koherencia hosszt (speckle) kell összevetni a leképezőrendszer felbontásával (Airy-folt): Térbeli koherencia feltétele: Θs << Θp

Térbeli részleges koherencia: Θs ≈ Θp Térbeli inkoherencia feltétele: Θs >> Θp Θs y Θp z tárgysík fényforrás lencse v. rendszer (belépő pupilla) –3– A fenti elvi ábra konkrét megvalósítása a Köhler-féle megvilágító rendszer, amelyet főként mikroszkópiában alkalmaznak izzószálas fényforrás esetén. kollektor lencse fényforrás apertúra rekesz mező rekesz kondenzor lencse tárgysík Köhler-féle megvilágítás sémája ideális vékonylencsékkel optikai tengely y y x tárgysík „o” leképező rendszer (lineáris rendszer) x z képsík „i” Időben koherens, skalárnak tekintett elektromágneses tér esetén: ·eiωt és E U Tárgy komplex amplitudó / intenzitás eloszlás: Uo(x, y) ; I o(x, y) = < |Uo(x, y) |2 > Kép komplex amplitudó / intenzitás eloszlás: Ui(x, y) ; I i(x, y) = < |Ui(x, y) |2 > Térben koherens eset: Uo(x, y) = Uo(x, y)1 + Uo(x, y)2 Ui(x, y) = Ui(x, y)1 + Ui(x, y)2

Térben inkoherens eset: Uo(x, y) = Uo(x, y)1 + Uo(x, y)2 Ii(x, y) = Ii(x, y)1 + Ii(x, y)2 A térbeli koherencia méréstechnikai alkalmazására szép példa a Michelson-féle „stellar” interferométer, aminek segítségével a csillagok átmérője meghatározható. ALAPVETŐ KÖZELÍTÉSEK • lineáris közegek (egymást keresztező fénynyaláboknál a szuperpozíció elve érvényes) • izotróp közegek (nincs irány és polarizáció függés) • homogén közegek (a törésmutató felületekkel határolt tértartományokon belül állandó) • szigetelő anyagok (a törésmutató valós és nincs abszorpció, σ = 0) • nem mágnesezhető anyagok (a fényterjedés megfordítható, µr = 1, ellenpld. Faraday-eff) • skalár közelítés ( E(r) E(r) = U(r) , ha NA = sin Θp < 0,6 ) • geometriai optikai közelítés (λ << optikai rendszer méretek és fénynyaláb méretek) –4– • időben koherens (monokromatikus) fényforrás • térben koherens

pontszerű tárgy (gömbhullám) – tervezéskor (ld. konvolúció-tétel!) • térben inkoherens (diffúz) kiterjedt tárgy – kiértékeléskor (ha szükséges) LENCSERENDSZEREK „SORRENDI” FELÉPÍTÉSE, ELŐJELSZABÁLYOK Cooke-triplet yi yi+1 vertex (homlokpont) yi ri > 0 zi xi xi+1 fényterjedés iránya zi zi+1 yi ri < 0 ni di ni+1 zi • Tárgyfelület sorszáma: i = 0. • Az (xi , yi, zi) koordináta rendszer az „i” felület lokális koordináta rendszere. • Általános, nem tengelyszimmetrikus esetben az egymást követő felületek lokális koordináta rendszerei el lehetnek tolva és forgatva egymáshoz képest. • Meridionális sík: bármely, az optikai tengelyt tartalmazó sík. • Előjel konvenciók: pozíció, szög, irány és görbületi sugár –5– IDEÁLIS LEKÉPEZÉS DEFINÍCIÓJA • pontot pontba képez le (a leképzés „sztigmatikus”), a képpont a tárgypont „konjugáltja”, OPD = 0 minden sugárra

tetszőleges tárgy-képpont párra – Fermat-elv • a tárgytér egyeneseit a képtér egyeneseibe képezze le (az első feltétellel együtt emiatt síkot síkba képez le) • létezzen egy egyenes amit a rendszer önmagába képez le (optikai tengely, szimmetria tengely) • az optikai tengelyt tartalmazó tartalmazó („meridionális”) síkok önmagukba képződjenek le • az optikai tengelyre merőleges síkok ugyanilyen síkokba képződjenek le • az optikai tengelyre merőleges síkokban lévő alakzatok hasonló alakzatokba képződjenek le (azaz torzításmentesen) JÖVŐ ÓRÁN Elsőrendű közelítés: mátrixos formalizmus, vékony- vastaglencse, fősík, pupillák, rekeszek –6– 2. ÓRA ISMÉTLÉS Közelítések: lineáris, izotróp, homogén, szigetelő, skalár, időben és térben koherens Ideális leképezés: sztigmatikus, egyenest-egyenesbe, síkot-síkba képez le, torzításmentes, meridionális sík-meridionális síkba, tengelyre

merőleges-sík tengelyre merőleges síkba képződik le ELSŐRENDŰ KÖZELÍTÉS (paraxiális v. Gauss-féle közelítés) y θ y θ ≈ sin (θ) ≈ tg (θ) y << r • • • r x z Ekkor a törő/tükröző felületeket síkkal helyettesíthetjük. („r” az adott felület görbületi sugara) A sugarak hely / iránykoordinátái lineáris egyenletekkel számolhatóak. A paraxiális közelítésben teljesülnek az ideális leképzés feltételei. A sugarak XZ , YZ meridionális vetületei függetlenül kezelhetők. (Tehát paraxiális közelítésben két merőlegesen elhelyezett hengerlencse helyettesít egy gömbi lencsét.) Törőfelület fókusztávolsága y α0 1. felület α>0 y1 x n0 α1 α0−α1 z n1 r1 f1 z1 z1 ≈ f 1   n 0 ⋅ α 0 = n 1 ⋅ α 1 (fénytörés)   (felületnormális)  α 0 ⋅ r1 = y1 f1 ⋅ (α 0 − α 1 ) = y1 (ideális leképzés) ⇒ f 1 = r1 ⋅ A törőerő definíciója: p1 = n1 / f1 [dioptria =

m−1] –7– n1 n1 − n 0 [α] = rad ! Tükör formális tárgyalása: n1 = −n0 . (Ha ptükör = ptörő felület, akkor n1 = 3n0 -nak felel meg! A törőerő képletébe való behelyettesítésnél figyelni kell arra, hogy: r1,tükör = −r1,törő felület.) Lencsefelület által egy sugárhoz „hozzáadott” fáziskésés (~ OPD) A fókuszálás példáján bemutatva: y ∆l a felület utáni gömb hullámfront y z x n f OPD( y ) ≡ OPL( y ) − OPL(0) = ∆l ⋅ n = n ⋅ ( y + f 2 2   y y2  − f = n ⋅ f  1 +   − 1 ≈ n ⋅ 2f   f   ) 2 Magyarázat a Taylor-sorfejtés: 2  1  y 2   y y2 1 +   − 1 ≈ 1 + ⋅    − 1 = 2  2 f   2f f    ha y << f Ebből következik, hogy a lencsefelület úgy viselkedik, mint egy fázistoló elem, ahol a fázistolás −OPD(y), mely négyzetesen függ a tengelytől mért

távolságtól. Ez egyben azt is jelenti, hogy a gömbi hullámfrontokat paraxiális közelítésben parabolával közelítjük. Mátrixos formalizmus 0. 1. θ1 y y1 y0 θ0 n0 n1 z d0 Fénysugár Y-optikai iránykoszinusza: v1 = n1·θ1  y1  A B   y 0   v  =  C D ⋅  v    0  1  (Y-tengellyel bezárt szög koszinusza) Ha leképezés állfenn, akkor B = 0 ! –8– Lencsefelületen fénytörés: Két felület között szabadtéri terjedés:  A B   1 0  C D  = - p 1     1  A B  1 d 0 n  0  C D =  1    0 Síkpárhuzamos üveglemez d ∆ z 1. 2 n Most a mátrixos formalizmus segítségével azt vizsgáljuk meg, hogy egy törőerővel nem rendelkező üveglemez hogyan helyezi át a képet (pl. CCD fedőüveg) Ehhez felírjuk az 1 pontból mint tárgypontból a 2. pontba mint képpontba történő leképezés ABCD mátrixát: A B 

1 z − d + ∆  1 0 1  C D  = 0  ⋅ 0 1  ⋅ 0 1         1 0 1 − z  1 ⋅ ⋅ = 1  0 1 0 1  0 d d − d ⋅n + ∆ ⋅n n n 1  .  A (B ≡ 0) leképezési feltétel miatt a képeltolás mértékére az adódik, hogy: ∆ = d ⋅ n −1 . n Figyeljük meg, hogy „z” értéke kiesett a képletből, azaz a képeltolás mértéke független a lemez helyzetétől. Vegyük észre azt is, hogy (A = 1) azt mutatja, hogy a nagyítás egységnyi Házi feladat: mennyit változik a fókuszpont laterális (x-y) helyzete, ha a fenti üveglemezt kicsiny α szöggel megdöntjük? További érdekes kérdés, hogy adott anyagba fókuszált fénynyaláb optikai tengely irányú pozíciója mennyivel változik meg ahhoz képest, ha ugyanezt a nyalábot levegőbe fókuszáljuk? Ez olyan, mintha fókuszpont éppen az előbbi üveglemez hátsó falán lenne. d ∆ 1. z

∆ = d⋅ 2. n n −1 n −1 ; d = z +∆ = z +d⋅ ⇒ d= n n z = z⋅n . n −1 1− n Vékonylencse Két, nulla távolságra elhelyezett törőfelület, ahol n0 ≠ n1 ≠ n2 és r1 és r2 >> D (átmérő). Tárgytávolság: s, képtávolság : s (vékonylencsétől mérve!). n0 = 1 ; n1 = n ; n2 = 1 –9– s y z F F s y 0  1 0 1 - s  y  1 s′  1 0 1 - s  y   y ′ 1 s ′  1  v ′  =  0 1  ⋅  − 1 1  ⋅  − n 1  ⋅  0 1  ⋅  v  =  0 1  ⋅  − 1 − n 1  ⋅ 0 1  ⋅  v       f2       f 2 f1        f1   A vékonylencse törőereje tehát: p = p1 + p2 = 1/f2 + n/f1 . Így tehát:  y ′  A B   y   v ′  =  C D ⋅  v  ,       ahol A = 1 − ps ; B = s(1 + ps) − s ; C = −p ; D = 1 + ps. Tárgy-képpont pár esetén

y független v-től, tehát B = 0, innen: s(1 + ps) − s = 0 1/s = p + 1/s , ami nem más mint a lencsetörvény (p = 1/f, ha s −∞). Ezt visszahelyettesítve megkapjuk a vékonylencse mátrixát leképezés esetére:  y ′  s ′ s  v ′  = - p    0   y ⋅ . s  v  s′    Vastaglencse : ( Nagyítás: s/s ; szögnagyítás: s/s ) Ld. mint fent, kivéve: d ≠ 0 Fősíkok P P y 1. z y d 2. z n y z A fősíkok az a tárgy-képsík pár, amelyet a rendszer +1 -es nagyítással képez le egymásba. Vékony-lencse esetén ez egybeesik a vékonylencsével. Vastaglencse esetén, ha az első fősík távolsága az első lencsefelülettől: z, és a másodiké az utolsó lencsefelülettől z, és a lencse törésmutatója n, a környezetéé pedig 1, vastagsága d, rádiuszai r1 és r2, akkor az első fősíkról (P) a hátsóra (P) történő fényterjedés mátrixa: 0 1  y ′ 1 z ′  1 = ⋅

  v ′  0 1  − 1 1  ⋅ 0      f2   0  1 - z   y    1 ⋅ ⋅  ⋅ 1  − n f1 1 0 1   v  d n – 10 – A fősík definíciója miatt: y = y tetszőleges v-ra (tehát ABCD-ből A=1 és B=0). Ebből: z= r1d n (r1 − r2 ) − (n − 1)d z′ = és r2 d n (r1 − r2 ) − (n − 1) d Ha a tárgy-, képtávolságot, valamint a fókusztávolságot a fősíkoktól mérjük, a (vékony) lencsetörvényt kapjuk vissza! A fősíktól mért fókusztávolságot effektív fókusztávolságnak nevezzük. A vastaglencse effektív fókusztávolsága:  1 1  d (n − 1) 2 1 = p = (n − 1) −  + f′  r1 r2  n r1 r2 (Ennek levezetése a félévi házifeladat része.) Ha d = 0, visszakapjuk a vékonylencse fókusztávolságának képletét. n n′ Ha a képtér törésmutatója n és a tárgytéré n, akkor: = − f f′ Ekkor az f fókusztávolság és

a levegőben mért f 0 kapcsolata : f = f 0 · n Kardinális pontok, paraxiális jellemzők, képszerkesztés P – főpont (fősík tengelypontja) N – csomópont F – fókuszpont Γ – tárgysík (Gauss-után) Γ – képsík Ha n = n akkor P = N. ω NT NL ΓT – tárgyszög (ld. következő utáni oldal) – transzverzális nagyítás (NT = y/y) – longitudinális nagyítás (NL = ∂s/ ∂s) – szögnagyítás (ΓT = Θ/ Θ) n′ 1 N L = N T2 ; Γ T = n NT s s n n Θ f y P N Γ F P z Γ F N y f Θ A NT és ΓT szorzata konstans egységnyi, emiatt minden felületen a sugársűrűség állandó! Rekeszek, pupillák AS FS EP EP BFL – apertúra rekesz helye (aperture stop) – mező rekesz helye (field stop) (entrance pupil) – belépő pupilla helye (exit pupil) – kilépő pupilla helye – hátsó fókusztávolság (back focal length), az utolsó lencsefelülettől a fókuszpont távolsága – 11 – EP BFL EP AS A belépő pupilla és az

apertúra rekesz kölcsönösen konjugáltak. A kilépő pupilla és az apertúra rekesz kölcsönösen konjugáltak. A belépő pupilla és a kilépő pupilla kölcsönösen konjugáltak. Nevezetes sugarak ferde fősugár ω EP apertúra sugár ω Θ n FS – 12 – A ferde fősugár (chief ray) a tárgytér szélén lévő tárgypontból halad a belépő pupilla közepe felé. Az apertúra sugár (axial ray v. marginal ray) az optikai tengelyen lévő tárgyponból halad a belépő pupilla széle felé. Numerikus apertúra: NA = n · sin Θ (Abbe-féle definíció) λ R Airy = 0,61 ⋅ 0 a diffrakciós fókuszfolt sugara. NA Relatív nyílás (f-szám): F/# = f / D, ahol „D” a kilépő pupilla átmérője. Végtelenből végesbe történő leképezésnél használják Az NA-val a felbontóképességet, az F/#-al a besugárzás mértékét szokás jellemezni (az optikai tengelyen). (A besugárzás radiometriai definíciója: egységnyi területre eső

fényteljesítmény.) Radiometriai-fotometriai megfontolásokból következik, hogy egy ideális (ún. aplanatikus) leképezőrendszer és Lambert-sugárzó karakterisztikájú tárgy esetén a képsík közepén a besugárzás értéke ~ sin2Θ, valamint az is, hogy a képsík besugárzása általában ~ cos4ω. (Lambert-sugárzónak akkor nevezünk egy tárgyat, ha az általa kibocsátott fény sugársűrűsége irányfüggertlen. A sugársűrűség radiometriai definíciója: adott irányban, egységnyi felület merőleges vetülete által egységnyi térszögbe kisugárzott fényteljesítmény.) Radiometriai alapfogalmak áttekintése A radiometria a térben inkoherens (diffúz) sugárzások mérésére, modellezésére kidolgozott tudományterület a fizikában. Fiziológiai párja a fotometria, ahol a mért fénymennyiségeket a szem átlagos spektrális érzékenységi görbéjével (V-görbe) korrigálják, hogy az emberi érzettel arányos mérőszámokat kapjanak. Mi az

alábbiakban a radiometriai alapfogalmakat, számításokat tekintjük át. A radiometriát általában két részre szokták bontani, annak megfelelően, hogy a vizsgált felület kisugározza-e a teljesítményt (emisszió), avagy befogadja-e azt (abszorpció, detektálás). Lényegét tekintve a kettő ugyanaz, tehát mi azzal foglalkozunk, hogy mennyi az adott felületen áthaladó teljesítmény értéke, függetlenül annak irányítottságától. Az elektrodinamika elsősorban térben koherens (hullámfrontokkal rendelkező) és monokromatikus sugárzásokkal foglalkozik. A valóságban viszont sokkal gyakrabban találkozunk diffúz, polikromatikus fénnyel. Ez utóbbi egyszerűen kezelhető modell szinten: a polikromatikus (időben inkoherens) fény spektrális hulláhosszakra bontva számolható, majd az eredmények intenzitásban (inkoherens módon) hullámhossz-szerinti integrálással összegezhetők. Annak érdekében, hogy ezt megtehessük, az adott sugárzás spektrális

jellemzésére bevezetjük az egységnyi hullámhossz tartományba eső teljesítményt, azaz a spektrális teljesítmény sűrűséget (PSD – power spectral density). A térben inkoherens fény tárgyalása hasonlóan történik, de először az eddig ismert fogalmainkat kell megfelelően módosítani, kiegészíteni. Térben koherens esetben a tér minden pontján egyetlen hullámfront halad át, melyhez egy Poynting-vektor (S) tartozik. „S” abszolút értékének időátlagát nevezik az elektrodinamikában intenzitásnak: <S>, azaz teljesítény sűrűségnek. Ha egy ponton több hullámfront halad át (értelemszerűen különböző Poynting-vektorokkal), akkor itt is be kell vezetni egy újabb sűrűség-jellegű mennyiséget, csak itt nem hullámhossz, hanem irány szerint kell a felbontást elvégezni. Ez az új mennyiség a „sugársűrűség” (angolul radiance), amely az egységnyi térszögbe eső Poynting-vektor mennyiséget jelöli. Egészen pontosan itt az

előbb definiált intenzitás sűrűségéről van szó, de – 13 – szándékosan kerüljük az intenzitás kifejezésének használatát, mivel a radiometriában intenzitás alatt egészen mást értenek, de erről a későbbiekben lesz szó. S dΩ θ dA A radiometria alap-mértékegysége a sugársűrűség (N), ami skalár mennyiség: N≡ d S dΩ , ahol Ω a térszöget jelöli. Ha arra vagyunk kíváncsiak, hogy egy felületelemen mennyi teljesítmény halad át, akkor háromféleképpen tehetjük föl a kérdést. A leggyakrabban előforduló esetben azt kérdezzük, hogy dA felületelemre merőleges irányban mennyi fény halad át, ha az összes, az adott sugárzásban jelenlévő, különböző irányú Poynting-vektort figyelembe vesszük: dP = dA ⋅ ∫ N ⋅ cos θ ⋅ dΩ ≡ dA ⋅ H A „H”-val jelölt térszög-szerinti integrált besugárzásnak nevezzük (angolul irradiance). Ez az a mennyiség amit pl. a CCD (CMOS) képérzékelők pixelei mérnek

„H” értéke csak helyfüggő, mértékegysége [W/m2] Amikor a ZEMAX egy adott felületen kirajzolja a fényeloszlást, ott is „irradiance”-t látunk. A következő teljesítmény meghatározás szerint arra vagyunk kiváncsiak, hogy mennyi a teljes felületen, dΩ térszögben áthaladó teljesítmény: dP = dΩ ⋅ cos θ ⋅ ∫ N ⋅ dA ≡ dΩ ⋅ J , (*) ahol a „J” felület szerinti integrált radiometriai intenzitásnak vagy sugárerősségnek nevezzük (angolul radiant intensity). „J” értéke csak az iránytól függ, emiatt a fényforrások iránykarakterisztikájának jellemzésére szokták használni, mértékegysége [W/strad]. Figyelem, ez a fogalom különbözik az elektrodinamikai intenzitás fogalmától! Ez nem más, mint az a fényeloszlás, amit tetszőleges fényforrás távolterében mérhetünk pl. fotodetektorral Mindezek alapján a felületelemen áthaladó összes teljesítmény: d 2 P = N ⋅ cos θ ⋅ dA ⋅ dΩ . Összefoglalva:

sugársűrűségnek (N) azt a teljesítményt nevezzük, ami adott irányra (θ) vetített felületegységen, egységnyi térszögben áthalad. „N” tehát hely és irányfüggő skalár mennyiség, mértékegysége [W/m2/strad]. A sugársűrűségre vonatkozik egy nevezetes tétel, amely közvetlenül az energiamegmaradástörvényéből vezethető le. Ez azt mondja ki, hogy tetszőleges optikai rendszerben az „N” értéke nem növelhető a fényforrás sugársűrűsége fölé. Abszorpciós és reflexiós veszteségek nélküli leképező rendszerek esetében a tárgyról kialakított minden képsíkban a sugársűrűség ugyanakkora lesz mint a tárgysík megfelelő pontjában. Ez azt jelenti, hogy pusztán a kép nagyításával, kicsinyítésével a sugársűrűség nem befolyásolható, egy leképező rendszer minden közbülső képsíkjában ugyanakkora lesz. A képsíkok közötti térben ugyanez a helyzet, – 14 – azaz „N” a terjedés során végig konstans

marad. Két tetszőleges sík esetén és a fentebb leírt veszteségek nélküli rendszerben ez a tétel általánosságában a következő formában írható fel: dy ⋅ d (sin α ) = dy ′ ⋅ d (sin α ′) és dx ⋅ d (sin β ) = dx ′ ⋅ d (sin β ′) , ahol dx, dy egy fénysugár koordinátáinak megváltozása, dx, dy a hozzátartozó koordináta megváltozása a képtérben. A kiindulási síkról elindított két, egymáshoz infinitezimálisan közeli fénysugár közötti szög x-z és y-z síkra vett vetületei a tárgytérben α és β, a hozzátartózó szögek a képtérben α és β. Ideális leképezés esetére az összefüggés levezetése a „Fizikai optika” tárgy Abbe-féle szinuszfeltételének levezetésével ekvivalens. dy α dy α leképező rendszer A fenti egyenletet paraxiális közelítésben az alábbi alakra lehet redukálni: y ⋅ α = y ′ ⋅ α ′ és x ⋅ β = x′ ⋅ β ′ , ez alapján mondhatjuk, hogy a transzverzális

nagyítás és a szögnagyítás szorzata állandó. Lambert-sugárzó A térben inkoherens (diffúz) fényforrások között kiemelt jelentőséggel bír az ún. Lambertsugárzó Ennek definíciója roppant egyszerű: olyan sík fényforrás, amelynél N = const a felület mentén mért pozíció, és a felületnormálissal bezárt szög függvényében. Tipikusan ilyen fényforrás egy homogénen megvilágított fehér papírlap vagy falfelület. Általában úgy hozható létre, ha egy közegben (pl. festék) térfogati (és nem felületi) szórást alakítunk ki Térfogati szórás esetén a felületre beeső fény kilépés előtt számos szóródást szenved, amelynek eredményeképpen a beeső fény iránykarakterisztikája teljesen kiátlagolódik, és emiatt a visszavert (visszaszórt) fény sugársűrűsége teljesen irányfüggetlen lesz. „N” felület menti homogenitását ekkor a megvilágítás homogenitása biztosítja. A fentiek mellett Lambert-sugárzó még pl. a

megvilágított teflon, illetve az LED-kben alkalmazott fénykibocsájtó p-n átmenet (azaz a LED-chip kiegészítő optikák nélkül), bármely fluoreszcens festék stb. A Lambert-sugárzó intenzitása koszinuszos lecsengést mutat, ld (*) egyenlet. Nem Lambert-sugárzó pl az izzólámpa, mert ennél az intenzitás (J) konstans az irány függvényében. JÖVŐ ÓRÁN Harmadrendű közelítés: leképezési hiba gömbfelület esetén, transzverzális és longitudinális sugáraberrációk, aberrációs polinom, az aberrációk mérőszáma – 15 – 3. ÓRA ISMÉTLÉS Paraxiális közelítés: Az optikai tengellyel kis szöget bezáró és hozzá közel haladó sugarakra érvényes; teljesíti az ideális leképzés feltételeit. Minden leképező rendszer az optikai tengely közelében ideális. Első és hátsó fősik: egymás +1-es nagyítású képei; ha a tárgy és képtávolságot tőlük mérjük, formálisan érvényes rájuk a lencsetörvény Apertúra

rekesz: az optikai tengelyen lévő tárgypontból indított fénykúp nyílásszögét határozza meg, azaz a rendszeren átjutó fénymennyiséget korlátozza Be-, kilépő pupilla: virtuális síkok, melyek az apertúra rekesz tárgy-/képoldali képei (köztük a nagyítás nem feltétlenül egységnyi!) Ferde fősugár: a tárgy szélén és az apertúra rekesz közepén áthaladó fénysugár Apertúra sugár: a tárgy közepén és az apertúra rekesz szélén áthaladó fénysugár ABERRÁCIÓK • A valódi (azaz nem paraxiális) optikai rendszerek általában nem teljesítik az ideális leképezés feltételeit. Ekkor a leképezés képalkotási hibákkal – aberrációkkal – terhelt • Az aberrációkat az okozza, hogy gyártás és ellenőrzés egyszerűsége miatt a leggyakrabban használt gömbsüveg alakú lencse és tükörfelülettel általában nem lehet kiterjedt tárgyról tökéletes leképezést megvalósítani. • Az aberrációk nem a

gyártási hibák következményei, hanem a gömbfelületekből alkotott (névleges) optikai rendszer sajátjai. (A gyártási hibák képalkotásra gyakorolt hatásait az ún. tűrésszámítással vesszük figyelembe) Az aberrációelmélet jelentősége • • • • a képalkotás minőségének megismerésében igen jelentős szerepet játszottak a különböző aberrációk eltérő tervezési műfogásokkal korrigálhatóak a leképező rendszer belső összefüggéseit lehet általuk feltárni segítségükkel általános tervezési elvek alakíthatóak ki Gömbi törőfelület leképezési hibája (aberrációja) y α0 ∆z 1. felület (lencse) α0−α1 y2 y1 x n0 n01 ≡ n1 / n0 2. felület (ernyő) α1 z n1 r1 s1 – 16 – A jelen vizsgálatot kollimált, tengelypárhuzamos belépő nyaláb esetén végezzük. Keressük az y2 = f(y1) függvényt, az r1 , n01 és s1 paraméterek függvényében. I . sin α 0 = n 01 sin α 1   II . y1 = r1 ⋅ sin (α

0 )   2 2 III . ∆z = r1 − r1 − y1  IV . y 2 = y1 − (s1 − ∆z ) ⋅ tg (α 0 − α 1 ) III . ⇒ ∆z ≈ y12 2r1 (Taylor − soros közelítésből, ld. múlt óra )  y  y  II . ⇒ α 0 = a sin  1  ; I és II ⇒ α 1 = a sin  1   r1   n 01 r1  x3 x3 a sin( x) ≈ x + ; tg ( x) ≈ x + (Taylor − soros közelítésből) 6 3 Mindezeket IV.-be behelyettesítve és átrendezve:  n −1  y2 = y1 ⋅ 1 − s1 01  + n 01r1   (  n −1 s 2 3 y13 ⋅  012 − 31 3 ⋅ (n 01 − 1) + (n 01 − 1) + (n 01 − 1)  2r1 n 01 2r1 n 01 ) ,  ahol a keletkező ötödrendű tagokat elhanyagoltuk. A fenti összefüggés harmadrendig leírja a leképezés hibáját, az optikai tengelyen lévő végtelen távoli tárgypont esetén. Az első tag a defókuszáltságot írja le; ha s1 = f1 , ez a tag nulla, a 2. felület a paraxiális fókuszban van (ld múlt óra, elsőrendű

közelítés). A második tag, mint majd később látni fogjuk, az ún nyíláshiba v. szférikus aberráció Nyíláshiba okozta aberráció. A képsík az ábrán a paraxiális fókuszban van – 17 – s 1 = f1 = 60 mm ; r1 = +20 mm ; n 01 = 1,5 0.005 0.004 y 2 (képsíkon) [mm] 0.003 0.002 0.001 0.000 -0.001 -0.002 -0.003 -0.004 -0.005 -2 -1.5 -1 -0.5 0 0.5 1 1.5 2 1.5 2 y 1 (kilépő pupillán) [mm] s 1 = f1−0,01 = 59,9 mm ; r1 = +20 mm ; n 01 = 1,5 0.005 0.004 y2 (képsíkon) [mm] 0.003 0.002 0.001 0.000 -0.001 -0.002 -0.003 -0.004 -0.005 -2 -1.5 -1 -0.5 0 0.5 1 y1 (kilépő pupillán) [mm] Nyíláshiba transzverzális hibagörbéi. A felső ábrán a képsík paraxiális képsíkban van. Az alsó ábrán a képsík optimális pozícióban van (foltméret minimum) Aberrációk csoportosítása spektrális viselkedés szerint • monokromatikus aberrációk: egyetlen, adott hullámhosszúságú fénnyel történő leképezés esetén is

előállnak (képélesség, alakhűség) • kromatikus aberrációk: különböző hullámhosszak esetén történő leképezés esetén keletkeznek, a lencseanyagok (üvegek) törésmutatójának hullámhossz-függése miatt Aberrációk csoportosítása mérőszám szerint • • • transzverzális sugár aberrációk (a hibákat a képsíkon lévő képfoltokon mérjük) longitudinális sugár aberrációk (a hibákat az optikai tengely irányában mérjük) hullámfront aberrációk (a hibákat a kilépő pupilla hullámfrontján mérjük) – 18 – Transzverzális, monokromatikus aberrációk x = dx fy θ paraxiális képpont y dy y fx hparaxiális h z ρ x h D/2 tárgypont valós fősugár be- v. kilépő pupilla Transzverzális sugáraberrációk abszolút értéke (optikai tengelyhez képest): x és y Transzverzális sugáraberrációk értéke a valós fősugár-képsík metszésponthoz képest: dx és dy ρ2 = fx2 + fy2 sin θ = fx / ρ cos θ = fy /

ρ (ρ, fx, fy általában a kilépő pupilla D/2 sugarára normált koordináták) tangenciális sík: Az y-z sík. Minden tárgypontra azonos Speciális meridionális sík, amely az általában az y-tengely mentén felvett tárgypontokat tartamazza. szagittális sík: Merőleges a tangenciális síkra és benne fekszik az adott tárgypontból indított fősugár. Minden tárgypontra külön-külön kell értelmezni TRANSZVERZÁLIS SUGÁRABERRÁCIÓK – HARMADRENDŰ KÖZELÍTÉSBEN Az x és y sugárkoordináták Taylor-sorfejtése hengerkoordináta rendszerben: (Miközben a tárgypont a tangenciális síkban van.) y ≈ A1 ρ cos θ + A2 h + B1 ρ3 cos θ + B2 ρ2 h ﴾2 + cos 2θ﴿ + ﴾3B3 + B4﴿ ρ h2 cos θ + B5 h3 + . x ≈ A1 ρ sin θ + B1 ρ3 sin θ + B2 ρ2 h ﴾sin 2θ﴿ + ﴾B3 + B4﴿ ρ h2 sin θ + . A1 A2 B1 B2 B3 B4 B5 - defókusz nagyítás nyíláshiba (szférikus aberráció) kóma asztigmatizmus Petzval-képmezőhajlás torzítás Mindegyik aberráció

jellegzetesen függ a tárgymagasságtól és a pupilla koordinátáktól. Az egyes aberrációk a legritkább esetben vannak jelen önmagukban, más aberrációk nélkül. A sorfejtés együtthatói bonyolult módon függnek a görböleti sugaraktól, a lencsefelületek távolságától, a törésmutatóktól valamint a tárgy és képtávolságtól. Az előbb B1 értékét hatá– 19 – roztuk meg analitikusan egy gömbi törőfelületre, az optikai tengelyen lévő végtelen távoli tárgypont esetén. A sorfejtés tagjai közül a paraxiális képmagasság: hparaxiális = A2·h, és az ide-ális (sztigmatikus de torzított) képmagasság: h = A2·h+B5·h3. A valós fősugár esetén (ρ = 0) a fenti sorfejtésből az marad, hogy y = A2·h+B5·h3 és x = 0, azaz az ideális képmagasság (har-madrendben) megegyezik a valós fősugár képsíkkal vett metszéspontjának y koordinátájával. Transzverzális hibagörbe A transzverzális hibagörbe a valós fősugár képsíkkal

vett döféspontjához képest mért transzverzális aberrációk (dy és dx) ábrázolása adott tárgypont esetén (h), a kilépő pupillán mért relatív sugármagasság függvényében (fy, fx). Szóródási folt Adott „h” tárgypontból az optikai rendszeren áthaladó fénysugarak képsíkkal vett döféspontjainak halmaza. A szóródási foltban a fénysugarak sűrűsége arányos a besugárzással (irradiancia). Ha ismert a szóródási folt (ez megfelel az impulzusválasznak), akkor tetszőleges tárgyról alkotott kép meghatározható a matematikából ismert konvolúció-tétel alapján. Transzverzális aberrációk mérőszáma A különböző aberrációkat praktikus okokból nem a fenti sorfejtés együtthatóival, hanem az adott tárgypontból indított valós peremsugarak és a valós fősugár paraxiális képsíkkal vett döféspontjai között lévő távolságokkal mérik (ld. az alábbi ábrákon) Ezen távolságok értékét harmadrendű közelítésben

határozzák meg, majd belőlük normálással alakítják ki az aberrációs együtthatókat. A transzverzális aberrációs-együtthatók – melyeket az aberrációk jellemző szimmetriatulajdonságai alapján alakítottak ki – a szóródási foltra jellemző közelítő mérőszámokat adnak. Peremsugarak definíciója fy apertúra rekesz fx – fősugár (valós), ρ = 0 – tangenciális peremsugarak (valós) – szagittális peremsugarak (valós) Aberrációs együtthatók definíciója A képsík paraxiális képsíkban van (mint az alábbi ábrákon). Úgy tekintjük, mintha egyszerre csak egyfajta aberráció lenne jelen. A definíciókat az érthetőség kedvéért leegyszerűsítettük – 20 – Ideális leképezés hibagörbéje és szóródási foltja. (dx = dy = 0) SA3 ← optikai tengely peremsugár Nyíláshiba hibagörbéje és szóródási foltja. h = 0 CMA3 ← fősugár szagittális peremsugár Kóma hibagörbéje és szóródási foltja. h ≠ 0

AST3 ← különbség tangenciális peremsugár fősugár szagittális peremsugár Asztigmatizmus hibagörbéje és szóródási foltja. h ≠ 0 PTZ3 ← fősugár perem sugár Petzvál-képmező hajlás hibagörbéje és szóródási foltja (ua. mint defókusz) h ≠ 0 – 21 – Ideális leképezés Defókusz Nyíláshiba Kóma Asztigmatizmus A monokromatikus aberrációk jellemző képfoltjai geometriai optikai közelítésben MONOKROMATIKUS ABERRÁCIÓK SZEMLÉLTETÉSE – I. h a Petzvál-képfelület rádiusza: rp b c képsíktól mért távolság (z) Asztigmatizmus és képmezőhajlás (a képfelület y-z keresztmetszete). Az a, b, c szakaszok harmadrendben egyenlőek (egyetlen vékonylencse esetén). JÖVŐ ÓRÁN Sugáraberrációk szemléltetése Kromatikus aberrációk Seidel-együtthatók Az aberráció elméletből levonható következtetések – 22 – 4. ÓRA ISMÉTLÉS Gömbfelület leképezési hibája Transzverzális sugáraberrációk:

monokromatikus eset Aberrációs polinom: aberrációk tárgymagasság és pupillakoordináta függése Peremsugarak: tangenciális és szagittális irány MONOKROMATIKUS ABERRÁCIÓK SZEMLÉLTETÉSE – II. kilépő pupilla fősugár Kómával terhelt nyaláb szóródási foltjának szemléltetése Fs fősugár Ft Asztigmatikus nyaláb fókusza (Ft és Fs egymásra merőleges fókuszvonalak) – 23 – A torzítás a nagyítás értékének tárgymérettől való nem lineáris függése. A fenti ábra hordótorzítást mutat, ennek ellenkezője a párnatorzítás. A torzítás mérőszáma: h − hparaxiális, azaz a paraxiális képponttól mért távolság a képsíkon, ahol h a valós fősugár képsíkkal vett döféspontja. Gyakrabban használt mérőszám a paraxiális képponttól mért relatív távolság: DIS3 = (h − hparaxiális)/ hparaxiális, amelyet %-ban adnak meg. Transzverzális kromatikus aberráció (elsőrendű) PLC ← PLC – elsőrendű

transzverzális színhiba PLC lineárisan függ a hullámhossztól, mert: n ≈ n0 − D·(λ − λ0) , D - diszperzió – 24 – LONGITUDINÁLIS KROMATIKUS ABERRÁCIÓ (ELSŐRENDŰ) PAC PAC – elsőrendű longitudinális színhiba SEIDEL-EGYÜTTHATÓK SA3 CMA3 AST3 PTZ3 PLC PAC - harmadrendű nyíláshiba - harmadrendű kóma - harmadrendű asztigmatizmus - harmadrendű Petzvál-képmező hajlás - elsőrendő transzverzális színhiba - elsőrendű longitudinális színhiba Az aberrációs együtthatók Seidel-féle formájához akkor jutunk, ha a fent bemutatott aberrációs mérőszámok paraxiális képsíkon mért, harmadrendű közelítésben meghatározott értékeit normáljuk a numerikus apertúra reciprokával, azaz 1/NA-val. Ez kb annak felel meg, mintha az aberrációk mérőszámát a diffrakciós folt sugarához viszonyítanánk (RAiry ~ 1/NA). (A torzítás együtthatója a korábban már bemutatott, paraxiális képméretre normált DIS3.) A

Seidel-együtthatók felületjárulékai A fentebb definiált Seidel-együtthatók a lencserendszert alkotó minden felületre külön-külön kiszámolhatóak. Mivel egy adott felület bármelyik aberrációja csak kismértékben növeli a képsíkon a foltméretet, alkalmazható a „kisjelű közelítés” (linearizáció): az optikai rendszer eredő aberrációját közelítőleg a felületeknél számított aberrációk összegeként kapjuk meg. Az együtthatók normálása miatt a különböző felületeken számított azonos fajta (pl. SA3 típusú) aberrációs együtthatók jól összehasonlíthatóak, ugyanis mind az adott felülethez tartozó képméret, mind pedig a diffrakciós folt sugara a nagyítással arányosan változik (tehát minden felületnél a képméret / diffrakciós foltméret hányados, azaz a felbontóképesség állandó). n n ΣSA3 = ∑ SA3i ΣDIS3 = ∑ DIS3 i ΣCMA3 = ∑ CMA3i ΣPLC = ∑ PLC i ΣAST3 = ∑ AST3i ΣPAC = ∑ PAC i i =1 n i

=1 n i =1 n i =1 n Ahol „i” a felület sorszáma, „n” pedig az összes felület darabszáma. i =1 n i =1 ΣPTZ3 = ∑ PTZ3i i =1 – 25 – SA32 NA2 i=2 az i = 2 felület paraxiális képsíkja Példa az i = 2 felület nyíláshiba együtthatójának meghatározására (SA32). A Seidel-féle aberrációs együtthatók alkalmazásának korlátai • Az aberrációk mérőszámainak meghatározásakor a fénysugarak pályájának kiszámítását csupán harmadrendű közelítésben végzik, ami 10-15% hibát jelent a valós sugárátvezetés eredményeihez képest. • A különböző fajta aberrációk a valóságban együttesen vannak jelen és a képminőségre gyakorolt hatásuk összeadódik. Az együtthatók viszont nem adhatók össze (pl kómát nem adhatunk össze nyíláshibával, vagy asztigmatizmussal). Emiatt csak Seidelegyütthatókra történő tervezéskor nincs módunkban a különböző aberrációkkal egymás hatását kompenzálni, ami

viszont elengedhetetlen pl. diffrakciókorlátos leképező rendszerek tervezésénél. (Ezért, amennyiben van rá lehetőség, jobb valós sugárátvezetéssel, szóródási foltméretre optimalizálni) AZ ABERRÁCIÓ ELMÉLETBŐL LEVONT KÖVETKEZTETÉSEK Bár a legtöbb harmadrendű aberráció (a Petzvál-görbület, a longitudinális és transzverzális színhibák kivételével) függ a lencsék alakjától (vagyis egy adott leképezési feladat megvalósítására alkalmazható kombinációk száma végtelen), az aberráció elmélet segítségével mégis levonhatunk bizonyos általános következtetéseket. A nyíláshiba SA3 együtthatójának analitikus meghatározása y 1. felület felület átmérő: D1 2. felület y2 y1 x n0 n01 ≡ n1 / n0 z n1 r1 s1 – 26 – Egyetlen törőfelület nyíláshibája a 2. óra alapján (tárgypont végtelenben, a tengelyen): (  n −1  + y 2 = y1 ⋅ 1 − s1 01 n r 01 1   )  n −1 s 2 3  y13

⋅  012 − 3 1 3 ⋅ (n 01 − 1) + (n 01 − 1) + (n 01 − 1)   2r1 n 01 2r1 n 01  s1 = f1 és p1 = n1/f1 helyettesítéssel (azaz ha a képsík paraxiális fókuszban van): y 2 = − y13 p12 2 2 ⋅ n 01 ⋅ (n 01 − 1) 2 , ahol p1 a törőerő (a lineáris tag a képletből kiesett). Ebből SA31 megkapható: 4 SA31 ≡ y 2 ⋅ 2 NA1 y1 = D1 2 p13  D1  = −  2 , 2  2  n 01 ⋅ (n 01 − 1) ahol kihasználtuk, hogy NA1 ≈ n1·D1/2/f1 = p1·D1 (D1 a felületen a fénynyaláb átmérője). Azaz pozitív lencse(felület) – negatív nyíláshiba, negatív lencse(felület) – pozitív nyíláshiba. A fenti levezetéshez hasonlóan az összes Seidel-együttható értéke (harmadrendű közelítésben) meghatározható a paraxiális ferde fősugár és a paraxiális apertúra sugár adott felületen vett hely és iránykoordinátáiból, és a lencserendszer szerkezeti paramétereiből (görbületi sugarak, törésmutatók stb.) Ezt

szemlélteti a bemutatott képlet is, melyben a szerkezeti paramétereken kívül csak a valós apertúrasugár y-koordinátája szerepel (D1 alakjában), amely viszont a számításokban jól közelíthető a paraxiális apertúrasugár y-koordinátájával. Az együtthatókat kifejező képletek (egyik) általános formája a – bonyolultságuk miatt itt ismertetésre nem kerülő – Coddington-Taylor egyenletek. Az aberrációkat befolyásoló tényezők összefoglalása A Coddington-Taylor egyenletek tanulmányozása alapján általánosságban azt a tapasztalatot szűrhetjük le, hogy az aberrációs együtthatók a következő lencserendszer-paraméterektől függnek (természetesen mindegyik másként): • • • • • • • lencsék alakjaitól lencsék számától törésmutatóktól tárgy és képtávolságtól tárgy és képmagasságtól apertúra rekesz helyétől apertúra rekesz méretétől A nyíláshiba fent levezetett együtthatójának analitikus

képletét alapul véve a főbb összefüggések jellegzetességeit foglaljuk össze az alábbiakban. Apertúrarekesz átmérő függés Adott felületen a nyíláshiba együtthatója a fénynyaláb átmérőjének a negyedik hatványával nő. Minden felületen a rendszer apertúra rekeszének átmérője határozza meg a fénynyaláb méretét. Tehát a tervezési feladat által megengedett legkisebb apertúra rekesz átmérőt használjuk, hogy a legélesebb képet kapjuk. Az apertúra rekesz méretét akkor nem csökkenthetjük, ha adott méretűnél kissebb diffrakciós foltot kell elérni, vagy a lencsével nagy fényteljesítményt kell begyűjteni. Az apertúra rekesz növelése a többi aberrációt is növeli – 27 – Lencseszám függés A nyíláshiba tehát köbösen nő a felület törőerejével. Egy adott „p” eredő törőerejű rendszert „k” db. lencsefelületből összeállítva az egyes felületek pi törőereje kb „k” első hatványával

fordítottan arányos, mivel közelítőleg a felületek törőerejének összege adja az eredőt törőerőt: pi ≈ p/k. Egy felület nyíláshibája viszont a törőerővel köbösen csökken, azaz SA3i ~ pi3 = p3/k3, vagyis az eredő nyíláshiba SA3 = ∑SA3i = k·SA3i ~ k/k3 = 1/k2-el csökken a lencsefelületek darabszámának növelésével. Következésképpen, adott eredő fókusztávolságú lencserendszert minél több, a lehető legkisebb törőerejű (azaz lehető legnagyobb fókusztávolságú) lencsékből állítsunk össze, hogy csökkentsük a nyíláshibát. Ez módszer a többi aberrációra is hasonló, azaz csökkentő hatással van. Törésmutató függés Adott törőerő mellett, a nyíláshiba negyedik hatvány szerint csökken a törésmutató növelésével. Mindig használjuk a tervezési feladat által még megengedett legnagyobb törésmutatójú üvegeket (költségvonzat) A törésmutató növelése a többi aberrációt is csökkenti Példák: Schott

BK7 üveg, nd = 1,517, ár = 18-25 €/kg, rel. ár = 1,0× ; Schott LASFN31 üveg, nd = 1,880, relatív ár = 63× ; Ohara S-LAH79, nd = 2,003, ár = 1600 €/kg (2008-as adat). Lencsealak függés Ha a nyíláshiba együttható képletét a fentebb vázolt módon meghatározzuk egy adott eredő törőerejű, két felületből álló lencsére is, azt fogjuk tapasztalni, hogy a nyíláshiba függ a lencse alakjától. Ez a megállapítás igaz szinte az összes aberrációra Ha a lencse egyik felületének görbületi sugarát szabadon változtatjuk, a másik felület görbületi sugara adódik az eredő törőerő képletéből (ld. 2 óra) Egy adott törőerejű (effektív fókusztávolságú) lencsét tehát végtelen számú lencsealakkal valósíthatunk meg. Mindegyik lencsealakhoz más aberrációk tartoznak, tehát a lencse alakjának változtatásával (p = const. mellett) bizonyos aberrációk jelentősen csökkenthetők. Egy lencse esetén például mindig van olyan alak,

hogy: nyíláshiba – min. kóma – 0 Ezt az eljárást nevezik a lencse „hajlításának”. Lencse optimális alakjának meghatározásához használható ökölszabály: a lencse egyik felületének kb. olyan alakúnak kell lennie, mint a másik felületénél a hullámfront alakja. Többtagú rendszereknél a nyíláshiba is nullára korrigálható. A nulla nyíláshibával, és a nulla kómával rendelkező leképező rendszereket aplanatikusnak v. aplanátnak nevezik Az aplanatikus rendszerek az optikai tengelyen és annak elsőrendben kis környezetében lévő tárgypontokat sztigmatikusan képezik le (ld. tipikusan mikroszkóp objektívek). Aplanatikus felületek Az aplanatikus felületek az általuk leképezett tárgyról nyíláshiba és kóma mentes képet alkotnak. Két fontos aplanatikus felület típust különbözetünk meg (az ábrán 1-el és 2-vel jelölve). Az 1 fajta felületnél az apertúra sugárra teljesül az Abbe-féle szinuszfeltétel: sin(α)/sin(α) =

n/n (ld. Optika II tárgy), a 2 fajta felületen pedig ugyanez a sugár fénytörés nélkül halad át. Mindkét felület nyíláshiba és kóma járuléka nulla, az 1 felületnek emellett az asztigmatizmus járuléka is zérus. Az ábra szerinti lencse (az 1 és 2 felületek együttes alkalmazása) az ún. aplanatikus meniszkusz, amelyet elsősorban nagy NA-jú, kis tárgyterű rendszereknél alkalmaznak előtétként (pl. mikroszkóp objektív, lézerdióda kollimátor stb) – 28 – 2. görbületi középpontja n n α α 1. 2. Képmezőhajlás - fókusztávolság függés Petzvál József már 1843-ban kimutatta a lencserendszerek képmező hajlása és a rendszert alkotó lencsék fókusztávolságai közötti összefüggést. Ha egy “k” darab vékonylencséből álló rendszernél fj és nj a j. lencse effektív fókusztávolsága és törésmutatója, akkor: Petzvál-görbület: k 1 1 = −∑ rp j =1 f j ⋅ n j feltétel a lencserendszerre: 1/rp := 0

Amiből az is következik, hogy: pozitív lencse(felület) – negatív Petzvál-képmező hajlás negatív lencse(felület) – pozitív Petzvál-képmező hajlás A képmezőhajlás jól korrigálható a képsík közelébe helyezett lencsével (mivel a képsík közelében van, a nagyításba kevéssé szól bele, de a Petzvál-görbületet csökkenti). A lencse alakja általában a képsík felé hajló meniszkusz, az effektív fókusztávolsága viszonylag nagy. Belépő pupilla a fősíkon Az apertúra rekesz azon kitüntetett helye az optikai rendszerben, amikor az a tárgyoldalon az első fősíkra, a képoldalon pedig a hátsó fősíkra képződik le. Ekkor a belépő pupilla és az első fősík egybeesnek (ugyanez igaz a kilépő pupillára és a hátsó fősíkra). torzítás – vékonylencsénél 0, rendszernél min. transzverzális színhiba – 0 Ez rekeszhely a transzverzális színhiba korrekciójának lencsealaktól független feltétele! Természetes rekeszhely Az

apertúra rekesz azon kitüntetett helye az optikai rendszerben (elsősorban egy db. vékonylencsére igaz), amikor: kóma – 0 képmezőhajlás – min. Szimmetrikus rendszer (a rekesz is középen van) kóma – 0 torzítás – 0 transzverzális színhiba – 0 Tökéletesen csak egységnyi nagyítás mellett igaz, de általában jó kiindulás. Plánparallel lemez alkalmazása Ideális, fókuszált nyalábba helyezett plánparallel lemez a vastagságától, törésmutatójától és a numerikus apertúrától függő pozitív előjelű nyíláshibát okoz. Gyűjtőlencsék negatív előjelű kismértékű nyíláshibájának kompenzációjára alkalmazható. – 29 – Akromát – elsőrendű színhiba korrigálása Pozitív és negatív lencsével elsőrendben színhibára korrigálható a lencserendszer. Színhibára nem korrigált lencse. A lencsét Színhibára korrigált lencse A lencsét elhagyó, elhagyó, különböző színű fénysugarak különböző színű

sugarak kb. párhuzamosak egymással, így kicsi a fókuszfolt a képsíkon. széttartóak, így nagy a képsíkon a fókuszfolt. 1.540 1.535 Törésmutató [-] 1.530 1.525 nF 1.520 nd nC 1.515 1.510 1.505 1.500 350 400 450 500 550 600 650 700 750 800 850 Hullámhossz [nm] BK7 (Schott) üveg törésmutató-hullámhossz függése. Elsőrendben lineárisnak, másodrendben parabolikusnak tekintjük. Elsőrendben a törésmutató hullámhossz függését lineárisnak tekintjük. Egy vékonylencse „p” törőereje a jellegzetes F, d, és C hullámhosszakon (ld. 2 óra): 1 1 p d = (n d − 1) ⋅  −  ;  r1 r2  1 1 pC = (n C − 1) ⋅  −  ;  r1 r2  1 1 p F = (n F − 1) ⋅  −   r1 r2  ahol r1 és r2 a lencse görbületi sugarai, „n” a törésmutatója. Ebből pC és pF a középhullámhosszhoz tartozó pd-vel kifejezhető: n −1 n −1 pC = p d ⋅ C és p F = p d ⋅ F nd −1 nd

−1 Ha két lencséből álló rendszert képezünk (törőerők p1 és p2), az eddig tanultak szerint az eredő törőerő: p = p1 + p2. Longitudinális színhiba mentes (akromatikus) rendszerben p(λ) = const. Tehát: p1C + p2C = p1F + p2F (p1F − p1C) + (p2F − p2C) = 0 , – 30 – amibe behelyettesítve az imént kapott kifejezést:  n − 1 n 1C − 1   + p 2 d p1d ⋅  1F − n − 1 n − 1 1d  1d   n − 1 n 2C − 1   = 0 . ⋅  2F − n − 1 n − 1 2d  2d  Ebből átrendezéssel adódik az akromatizálás (longitudinális színhiba mentesség) feltétele:  n − n 1C p1d ⋅  1F  n 1d − 1   + p 2 d   n − n 2C ⋅  2F  n 2d − 1   = 0 .  (*) Tetszőleges törőerejű lencse kromatikus aberrációját jellemezhetjük a törőerő relatív megváltozásával a hullámhossz függvényében: ∆p FC p − pC ≡ F , pd pd ami a törésmutatók ismeretében így

írható: ∆p FC n F − n C = . pd nd −1 Ez a mennyiség csak a lencse anyagától függ, vagyis fontos jellemzője az optikai üvegeknek. A relatív törőerő változás reciproka külön nevet is kapott, ez az Abbe-szám (νd), amelyet minden üvegkatalógusban feltüntetnek. Az Abbe-szám definíciója tehát:  ∆p  ν d ≡  FC   pd  −1 = nd −1 . nF − nC Ezzel a (*) kifejezés a következő jól ismert alakra egyszerűsödik: p1d / ν1d + p2d / ν2d = 0. Az Abbe számot minden üvegkatalógus minden üvegre tartalmazza, értéke 20-90 között van. A fenti követelményt kiegészítve a pd = p1d + p2d feltétellel, meghatározhatók az akromatikus duplet törőerejei. Az is látszik, hogy pozitív törőerejű lencse longitudinális színhibáját csak negatív törőerejű lencse korrigálhatja. A Schott üvegkatalógosból pl a BK7 (pozitív) és SF2 (negatív) olcsó, jól használható üvegek alkothatnak alkalmas üvegpárt. Másodrendű

színhiba A törésmutató parabolikus hullámhosszfüggését is figyelembe véve azt kapjuk eredményként, hogy a színhiba csak diszkrét hullámhosszakon korrigálható, véges hullámhossz tartományon belül nem. Ezeket a rendszereket az effektív fókusztávolság hullámhossz függésével jellemzik. Két különböző üvegből összeállított rendszernél legjobb esetben két hullámhosszon lehet azonos a fókusztávolság (akromát). Az előbbiekben, az Abbe-számmal meghatározott akromatizálási feltétel esetén C és F hullámhosszon lesz egzaktul azonos a fókusztávolság. Több üveganyag használata esetén három hullámhosszon (apokromát), vagy akár öt hullámhosszon (szuper akromát) is elérhető azonos eredő effektív fókusztávolság. – 31 – feff feff feff λ0 Akromát λ0 λ0 Apokromát Szuper akromát JÖVŐ ÓRÁN Valós sugárátvezetés: sugárkövetési egyenletek, szóródási folt, hullámfront aberráció, OPD, Gauss-féle

referencia gömb Diffrakciós modellekben alkalmazott közelítések – 32 – 5. ÓRA ISMÉTLÉS Aberrációk szemléltetése Seidel-együtthatók: felületenként számolhatóak, összegezhetőek, alkalmazhatók leképezés analízisre Levezetett következtetések: lencse darabszám növelés, törésmutató növelés, nyalábátmérő csökkentés Ismertetett következtetések: rekeszhely, szimmetria, képmező hajlást korrigáló meniszkusz VALÓS SUGÁRÁTVEZETÉS – A GEOMETRIAI OPTIKA LEGPONTOSABB MODELLJE A valós sugárátvezetés egyenletei tárgysík i. i+1. si y lokális koordináta rendszer si+1 ri x ri+1 di k, z ni Ri képsík ni+1 ni+1 Ri+1 Di - felület átmérő „s” a sugár irányába mutató egységvektor (sugárvektor), „n” felületnormális egységvektor. Az „r”helyvektor, amelyet minden felület homlokpontjában (vertex, az optikai tengellyel vett metszéspont) felvett lokális koordináta rendszerében értelmezünk.

„k” a z-tengely irányába mutató egységvektor. A lokális koordináta rendszerek közötti kapcsolatot adja a d·k vektor A sugárkövetés lépésekből álló algoritmus. Egy adott sugár követését egy kijelölt tárgypontból kezdjük, adott irányba. A kezdő irányt a belépő pupilla felületének egy pontja megcélozásával jelöljük ki. Az alábbiakban az i lépés leírása következik 1. Kiindulás: ri, si, di, ni, ni+1, Ri, Ri+1 adottak, keressük: ri+1, si+1 . 2. Az i+1 felülettel vett döféspont ri+1 koordinátáinak meghatározása: Egyenes egyenlete: Gömb egyenlete: ((ri+1 + k·di)− ri)×si = 0 2 │ri+1 − k·Ri+1│ = Ri+1 2 ⇒ ri +1 ⋅ k = ri +1 2 , 2R i +1 ahol a skaláris szorzatot kifejtettük és az egyenletet átrendeztük. A gömbfelületnél keletkező két döféspont közül Ri+1 > 0 esetén a sugár irányából nézve a közelebbiket, Ri+1 < 0 esetén a távolabbikat kell választani. A kifejezés sík törőfelület

esetén is – 33 – használható. Akkor ha │Ri+1│>> Di+1 biztosan igaz, hogy│Ri+1│>>│ri+1│, tehát az Ri+1 ∞ helyettesítést alkalmazhatjuk, vagyis az egyenlet jobb oldala zérus lesz. 3. Az ni+1 felületnormális meghatározása (a vektor irányítottsága itt érdektelen): n i +1 = ri +1 − k ⋅ R i +1 ri +1 − k ⋅ R i +1 ri +1 = = −k R i +1 R i +1 ri +1 − k ⋅ R i +1 Ez a kifejezés is használható sík törőfelület esetén, ld. a 2 pontnál írottakat 4. A megtört sugár si+1 irányának meghatározása: Snellius-Descartes törvény: (ni·si)×ni+1 = (ni+1·si+1)×ni+1 5. Érkezés: ri+1, si+1 meghatározva. Az algoritmust felületről felületre haladva addig kell ismételni, amíg el nem érjük a képsíkot. A fenti általános algoritmusnak speciális esetét használják meridionális sugarak átvezetésére. Korszerű számítógépes programok 100-200 ezer db sugár/felület/sec sebességgel számolnak. Vinyettálás

1. AS 1. AS 7. 7. fénynyaláb AS fénynyaláb A nem tengelyen lévő tárgypontokból kiinduló fénynyalábokat nemcsak az apertúrarekesz korlátozhatja, hanem más lencsék apertúrái, foglalat alkatrészek (szabad átmérők) is. Ekkor vinyettálásról beszélünk. A vinyettálás növeli a diffrakciós folt méretét (hiszen egyik irányba az NA lecsökken), valamint csökkenti a rendszeren átjutó fény mennyiségét is, a képtér széle felé csökkenő besugárzást eredményezve. Cserébe viszont a kirekeszelt sugarak aberrációi nem terhelik a képminőséget, emiatt gyakran szándékosan is szokták alkalmazni a kóma aberráció csökkentésére. – 34 – Fókuszmélység, mélységélesség (geometriai optikai közelítésben) A fókuszmélység (δ) azt fejezi ki, hogy mennyivel tolhatjuk arrébb z-tengelyirányban a képsíkot anélkül, hogy jelentős képminőség romlást észlelnénk. (Ha nem a kép, hanem a tárgysík eltolását vizsgáljuk,

akkor a δ távolságot mélységélességnek nevezzük.) Geometriai optikai közelítésben a mélységélesség-tárgytávolság és effektív fókusztávolság függését az alábbiakban egy ideális lencse esetére vizsgáljuk meg, konstans transzverzáli snagyítás mellett. Γ R Γ ∆y δ z δ t k R R ∆y ′ = ≈ (Ha k > R. A közelítés f# = 1-es lencse esetén is csak ~10% hibát okoz) δ ′ k −δ ′ k 1 1 1 k k 1 = + N T k = (1 − N T ) f ; figyelem: NT < 0! = N T ; N L = N T2 ; = + k f t f t ∆y ′ = R ⋅ δ ⋅ N T2 R R δ ′ ∆y ′ = δ ⋅ N T2 ∆y ′ = (1 − N T ) f k k avagy ∆y ′ = δ ⋅ N T2 2(1 − N T ) f # Következtetés: ugyanakkora transzverzális nagyítás esetén nagyobb fókusztávolsághoz nagyobb mélységélesség tartozik. Ugyanezt relatív nyílással úgy fogalmazhatjuk meg, hogy kisebb relatív nyíláshoz (nagyobb f#-hoz) nagyobb mélységélesség tartozik. Szóródási folt valós fősugár y DYi z

képsík Egyetlen tárgypontból indított valós sugarak és a képsík metszéspontjai – 35 – A szóródási folt egy „h” tárgymagasságú tárgypontból indított valós sugarak képsíkkal vett döféspontjainak (sugár koordinátáinak) halmaza. A sugár koordinátákat (DXi, DYi) a fősugár koordinátáihoz képest mérjük. Így a szóródási folt súlypontjának (centroid) koordinátái „n” db. sugár esetén: 1 x = W n ∑ w DX i =1 i ; i 1 y = W n n ∑ w DY i =1 i ; W =∑ wi , i i =1 ahol wi minden sugárhoz egyedileg rendelt súlyozó tényező (radiancia, azaz sugársűrűség: egységnyi vetített felület által egységnyi térszögbe kisugárzott fényteljesítmény). Ezzel lehet modellezni, ha az apertúra rekesz nem egyenletesen (hanem pl. Gauss-nyalábbal) van kivilágítva. A súlypont koordinátája a valós képmagasságot (a képfolt helyét) adja meg A leképezés minőségét a szóródási folt méretével (σr) jellemzik

(szórás-jellegű mennyiség): σ x2 = 1 W ∑ w (DX n i =1 i i − x ) 2 ; σ y2 = 1 W ∑ w (DY n i =1 i i − y ) 2 . Ebből az x és y irány átlagos szórása, azaz a szóródási folt sugara (RMS spot size): σ r = σ x2 + σ y2 (ld. független sztochasztikus változók eredő szórásának számítása) A szóródási folt súlypontja köré húzott σr sugarú kör tartalmazza az adott tárgypontból az apertúra rekeszen áthaladó összenergia kb. 80%-át (az érték némileg aberráció függő) Egy ideális, aberrációmentes diffrakciós folt középpontja köré húzott Airy-sugarú kör (RAiry) a diffrakciós folt összenergiájának kb. 84%-át tartalmazza, tehát a szóbanforgó lencserendszer NA-jával számított RAiry jól összehasonlítható σr-el. Ha a szóródási folt sugara már annyira kicsi, hogy σr << RAiry (azaz a szóródási folt sugara jóvak kisebb mint az ideális diffrakciós folt mérete), akkor a rendszert

diffrakciókorlátosnak tekintik. Innentől a geometriai közelítés nem szolgáltat információt a leképezés minőségéről, mivel a foltméretet elsősorban a diffrakció (azaz az NA) határozza meg (azaz a képminőséget csak a diffrakció „korlátozza”). Amennyiben csupán az teljesül, hogy σr ≈ RAiry, a rendszert közel diffrakciókorlátosnak nevezik – ezeknél a geometriai aberrációk még befolyásolják a leképezést. A következő alfejezetben ilyen rendszerek minősítésére szolgáló mennyiséggel ismerkedünk meg. Hullámfront aberráció A diffrakciós folt minősége (mérete, kontrasztossága) attól függ, hogy milyen a kilépő hullámfront alakja. A szóródási folt sugara helyett ennek minősítésére bevezették a hullámfront aberráció fogalmát, amely alkalmas a közel diffrakciókorlátos rendszerek leképezésének jellemzésére. A számítás még mindig geometriai optikai, így gyorsan elvégezhető (nem igényel diffrakciós

integrálást). Egy optikai rendszer diffrakciós foltjában kétféle hatás érvényesül. Az egyik a fénynyalábot korlátozó apertúrák diffrakciós hatása (ez tökéletesen korrigált, azaz ideális rendszereknél is van), a másik a kilépő hullámfront diffrakciója (ez csak aberrációkkal terhelt leképezésnél jelentkezik). A tökéletesen gömb alakú kilépő hullámfront diffakciós foltját tekintik ideálisnak (ez a diffrakciókorlátos folt). Az ideális leképezést elrontó aberrációkat az ún hullámfront aberrációval (az ideális kilépő gömbi hullámfronttól mért eltéréssel) jellemzik. Az apertúra rekesz az az átmérő az optikai rendszeren belül, amelyik az áthaladó fényt legjobban korlátozza (megvágja). Mivel ennek képoldali konjugáltja a kilépő pupilla, e két felület közötti diffrakciós hatásoktól eltekinthetünk (az apertúra rekesz széle közelítőleg – 36 – élesen, diffrakciós gyűrű mentesen képződik le a

kilépő pupillára). Tehát az apertúrák diffraktáló hatását redukálni lehet egyetlen felületre, a kilépő pupillára (mintha csak ez diffraktálna, és a többi felület korlátozó hatásától eltekintenénk) – emiatt itt szokás megadni a kilépő hullámfront alakját, azaz a hullámfront aberrációt. A kilépő hullámfront alakja a térbeli terjedés közben változik, ezért a hullámfront aberráció értéke csak akkor jellemzi a rendszert, ha a kilépő pupilla síkjában számoltuk ki. Máshol lévő felületen más az aberráció mértéke, ami más diffrakciós folt romlást mutat. Besugárzás eloszlás a kilépő pupillán. Besugárzás eloszlás távol a kilépő pupillától. Gauss-féle referenciagömb, RMS OPD A hullámfront aberrációt a képsíkon lévő referencia pontra centrált Gauss-féle referencia gömbre (ideális kilépő hullámfrontra) vonatkoztatva adjuk meg. A referencia pont lehet a valós fősugár döféspontja, vagy az a pont

amelyik a hullámfront aberrációt az adott tárgypont esetén minimalizálja. A referencia hullámfront definíció szerint átmegy a kilépő pupilla közepén. y Γ Di n i. sugár z fősugár EP Gauss-referencia gömb Kilépő hullámfront A hullámfront aberráció értéke: OPDi = n · Di , ahol n a képtér törésmutatója. Az OPD-t általában hullámhossznyi (λ0 – a vákuumban mért hullámhossz) egységekben mérik. A hullámfront aberráció mérőszáma az OPD (Optical Path Difference), amelyet a kilépő pupillát mintavételező „n” db. sugár mindegyikére kiszámolunk Az OPD kiszámítását az optikai tervezőprogramok a fénysugarak mentén mért optikai úthossz segítségével végzik (OPL – Optical Path Length). Először meghatározzák a tárgyponttól a kilépő pupilla közepéig a valós fősugár mentén mért optikai úthosszat, OPLC-t, majd minden sugárra a Gauss-gömbig – 37 – mért optikai úthosszat, OPLi-t. Ebből: OPDi = OPLi

− OPLC Ideális esetben a kilépő hullámfront alakja megegyezik a Gauss-gömbbel; ilyenkor a hullámfront aberráció nulla. Bár az egy tárgyponthoz tartozó sugarak hullámfront aberrációjának jellemzésére alkalmazható a PV (peak-to-valley) OPD érték megadása is, leginkább az RMS OPD-t használják, mivel ez közvetlen kapcsolatban van az adott diffrakciós folt minőségével (ld. később): RMS OPD = 1 W n ∑ wi OPDi2 i =1 n ; W = ∑ wi . i =1 („Simán” változó aberrációkra igaz: PV OPD ≈ 3,5 · RMS OPD.) Diffrakció korlátosnak akkor tekintünk egy leképező rendszert, ha minden képpontra az RMS OPD értéke < 0,07 λ0. Ezt nevezik Rayleigh-kritériumnak. Ekkor a geometriai aberrációknak már semmilyen hatásuk nincs a képminőségre, a felbontóképességet csak a diffrakció korlátozza. Mint azt később látni fogjuk, az RMS OPD a leképezést diffrakciós szempontból jellemzi. Hatalmas előnye mindenféle diffrakciós számítással

szemben, hogy geometriai optikai úton, 100-1000 sugár átvezetésével az értéke (egy tárgypontra) nagy pontossággal meghatározható. Hátránya, hogy figyelmen kívül hagyja a hullámfront alakját, ami nagy aberrációknál már nem elhanyagolható a leképezés szempontjából. Ebből kifolyólag, ha a hullámfront aberráció túl nagy, kb. RMS OPD > 0,14 λ0, akkor már nem jól jellemzi a leképzést Nem diffrakció korlát közeli rendszernél tehát félrevezető az RMS OPD használata, helyette időigényes diffrakciós számításokat kell végezni. Ha az RMS OPD még egy lambdányinál is nagyobb, sokkal célravezetőbb és hatékonyabb a szóródási folt, azaz a transzverzális aberrációk (pl. RMS foltméret) vizsgálata. Hogy miért, azt a következő pontban vizsgáljuk Az OPD kapcsolata a transzverzális sugáraberrációval A hullámfront aberráció differenciális kapcsolatban van a transzverzális sugáraberrációkkal. Viszonylag könnyen belátható,

hogy: l ∂OPD( x, y ) l ∂OPD( x, y ) és x ′ = , n′ n′ ∂x ∂y ahol x, y a kilépő pupillán mér sugárkoordináta, l a kilépő pupilla és a képsík távolsága, n a képtér törésmutatója, és x, y a transzverzális sugáraberrációk (a valós fősugár képsíkkal vett döféspontjától mért távolságok). A fenti összefüggésből látható, hogy igen kis hullámfront aberráció jelentős sugáraberrációt eredményezhet, vagyis ha egy rendszer nem diffrakció korlátos (azaz a szóródási folt jóval nagyobb a diffrakciós foltnál), akkor a sugáraberrációk sokkal érzékenyebben mutatják a rendszer jóságát mint az OPD. y′ = DIFFRAKCIÓ Diffrakció sík felületen Egy tárgypont képét a legpontosabban diffrakciós módszerekkel számíthatjuk ki. A diffrakciós modellek azt feltételezik, hogy egy sík felületen ismert a komplex téreloszlás Ũ(x, y). Ettől a síktól tetszőleges z távolságban lévő ernyőn az Ũ(x, y) téreloszlást

diffrakciós formulákkal kaphatjuk meg, amelyeket a matematikából ismert Green-tételből és a Maxwellegyenletekből vezettek le. Lencséknél a képsík az ernyő, és az eddig tanultak alapján a kilépő pupilla az a sík, ahol ismert a komplex amplitudó eloszlás Ũ(x, y). A diffrakciót leíró formulák különböző módszerekkel integrálják a kilépő pupilla P pontjaiban a komplex amplitudót, hogy megkapjuk az ernyő egy P pontjában a komplex amplitudó Ũ(x, y) értékét. Az integrálást numerikusan végezzük, a kilépő pupilla megfelelő mintavételezésével. – 38 – y Ũ(x, y) y x P(x, y) x P (x, y) EP z D/2 P – kilépő pupilla (EP) egy pontja, P – képsík egy pontja Közelítések Vektor diffrakció: A Maxwell-egyenletek közvetlen megoldása. Hátránya, hogy kiszámítása nagyon körülményes Skalár közelítés: Fresnel-Kirchhoff v. Rayleigh-Sommerfeld diffrakciós integrál, amely az elektromos teret skalár mennyiségnek

tekinti. Mivel az optikai tervezésben az esetek zömében skalár közelítést tételezünk fel, a téreloszlást a skalár „U” paraméterrel jelöljük (és nem E-vel, B-vel). Lencséknél akkor alkalmazható ez a közelítés, ha NA < 0,6. Hátránya, hogy numerikus kiszámítása meglehetősen időigényes a szükséges nagyszámú mintavételi pont miatt. Huygens-Frensel elv: A skalár közelítésből származtatható integrál formula. A diffrakciós teret modellező virtuális gömbhullámok sugárzási iránykarakterisztikájának szögfüggését elhanyagolja. Kicsit egyszerűbb képleteket eredményez mint a fenti integrál formulák, de kiszámítása hasonlóan nagy mintavételezést igényel. Lencséknél alkalmazható, ha NA < 0,5 i ~ e ik ⋅R′ ~ ⋅ dxdy , ahol k ≡ 2π/λ és R ≡ PP U ′( x ′, y ′) = − ∫∫ U( x, y ) ⋅ λ EP′ R′ Fresnel-közelítés: A skalár diffrakciós integrálokból levezethető közelítés, ha az ernyő nincs

túl közel a diffraktáló felülethez: 2 π (x′ − x )2 + ( y′ − y )2 << z 3 4λ Lencséknél alkalmazható, ha NA < 0,5 (ld. Huygens-Fresnel elv indoklása). A kevesebb szükséges (nagyságrendileg 108 db) mintavételi pont miatt jóval gyorsabban kiszámolható mint a Fresnel-Kirchhoff formula. A diffrakciós integrál alakja Fresnel-közelítésben: [ ] −i⋅e ~ U ′( x ′, y ′) = -ikz i ⋅e λz ( k ⋅ x′ 2 + y ′ 2 2z ) i ⋅( x 2 + y 2 ) −i ⋅( 2 x′x + 2 y ′y ) ~ 2z 2z U ( x , y ) ⋅ e ⋅ e ⋅ dxdy ∫∫ k k EP′ Fraunhofer-közelítés: Sík felületen lévő komplex amplitudó eloszlás távoltéri diffrakciós képének kiszámítására használják. Érvényes, ha z ∞, pontosabban: π 2 x + y 2 << z . λ [ ] – 39 – Rendkívüli előnye, hogy diffrakciós számítás létére viszonylag kis, 104105 db mintavételi ponttal meghatározható. Emlékeztetőül, sík felület távoltéri diffrakciós képe

Fraunhofer közelítésben: −i⋅e ~ U ′( x ′, y ′) = -ikz i ⋅e λz ( k ⋅ x′ 2 + y ′ 2 2z ) k −i ⋅( x′x + y ′y ) ~ z U ( x , y ) ⋅ e ⋅ dxdy ∫∫ EP ′ JÖVŐ ÓRÁN Gömbhullám diffrakciója Fraunhofer diffrakció: érvényesség, pontszórás függvény (PSF), Strehl-arány, kapcsolat az RMS OPD-vel Kiterjedt tárgyak leképezése: konvolúció Képanalízis frekvencia térben: moduláció átviteli függvény (MTF) – 40 – 6. ÓRA ISMÉTLÉS Valós sugárátvezetés: vektoros sugáregyenletek Szóródási folt: geometriai optikai RMS foltméret Hullámfront aberráció: a kilépő pupillán mért hullámfont alakihája (OPD) Gauss-referencia gömb: tökéletes gömbi hullámfront, erre vonatkoztatjuk az OPD-t RMS OPD: geometriai optikailag kiszámolt mennyiség, ami a rendszert diffrakció szempontjából jellemzi Diffrakciós integrálok: Huyghens-Fresnel, Fresnel, Fraunhofer-közelítés DIFFRAKCIÓ Gömbhullám

diffrakciója Eddigi optikai tanulmányainkból következik, hogy egy lencse képsíkjában a kilépő pupillán vett, adott tárgyponthoz tartozó komplex amplitudó eloszlás Huyghens-Fresnel diffrakciós képe jelenik meg. Tételezzük fel, hogy x, y és x, y << z (ez kis képtér és NA < 0,5 esetén automatikusan teljesül) A fentiek szerint ekkor az integrál jól közelíthető a Fresnel-diffrakciós formulával, ennek ellenére számításainkat a Huyghens-Fresnel képletből kiindulva végezzük. Ilymódon ui. nem csak egy jól használható integrálformulát kapunk, hanem meghatározhatjuk a közelítés érvényességi körét is. A Huyghens-Fresnel integrál exponensében szereplő R kifejezése elsőrendű Taylor-sorfejtéssel a következőképpen közelíthető (ld. múlt órai ábra): R′ = (x 2 2 z 2 + ( x − x ′) + ( y − y ′) = = x2 + y2 + z2 ⋅ 1+ = x2 + y2 + z2 + 2 ) ( ) + y 2 + z 2 + x ′ 2 + y ′ 2 − 2 xx ′ − 2 yy ′ = x ′ 2 +

y ′ 2 − 2 xx ′ − 2 yy ′ ≈ x2 + y2 + z2 x2 + y2 + z2 x′2 + y′ 2 2 x2 + y2 + z2 −  1 x ′ 2 + y ′ 2 − 2 xx ′ − 2 yy ′  ⋅ 1 + = x2 + y2 + z2  2  2 2 xx ′ + yy ′ x′ + y ′ xx ′ + yy ′ ≈ x2 + y2 + z2 + − . 2z z x2 + y2 + z2 Az integrál ezzel a következő alakú lesz (a nevezőben egyszerűen R ≈ z): ~ U ′( x ′, y ′) = − i⋅e i ( k ⋅ x′ 2 + y ′ 2 2z λz ) ~ ik ⋅ ∫∫ U( x, y ) ⋅ e x2 + y2 + z 2 ⋅e k − i ⋅( xx′+ yy ′ ) z ⋅ dxdy EP ′ Ha a lencse fókuszpontja a kilépő pupillától z = l távolságra lévő képsík középpontjának közelében helyezkedik el, a kilépő pupillán az Ũ(x, y) komplex téreloszlás fázisa célszerűen ~ kifejezhető a képsík középpontja felé terjedő, G ( x, y ) Gauss-féle referencia gömbhullám fázisával (konvenció szerint a fény fázisa a terjedési irányban siet, azaz > 0): i ϕ ( x , y ) − k ⋅ ~ ~ U( x, y ) = U 0

⋅ e  x 2 + y 2 +l 2   ~ ~ = O( x, y ) ⋅ G ( x, y ) , ahol ~ ~ ~ O( x, y ) ≡ U 0 ⋅ e i⋅ϕ ( x , y ) ; G ( x, y ) ≡ e −ik ⋅ x 2 + y 2 +l 2 ; φ(x, y) ≡ 2π·OPD(x, y)/λ0 . Õ(x, y) neve „pupilla függvény”, melynél feltételeztük, hogy a kilépő pupillában az amplitudó abszolút értéke konstans. Ezt behelyettesítve a fenti integrálba, a gömbhullámot leíró tényező kiesik az integranduszból, és az intenzitás eloszlásra a következő kifejezést kapjuk: – 41 – U2 ~ 2 I′(x ′, y ′) ~ U ′ = 2 0 2 λ ⋅l ∫∫ e i 2π λ0 ⋅OPD ( x , y ) ⋅e −i 2π ⋅( x′x + y ′y ) λ ⋅l 2 ⋅ dxdy , EP′ Itt „l” értéke nem végtelen, mégis a kifejezés formailag a megegyezik Fraunhofer-integrállal! Látható, hogy Õ(x, y) távoltéri Fraunhofer-diffrakciós foltjának méretét l/z-vel átskálázva, megkapjuk a lencse képsíkjában Huyghens-Fresnel-diffrakcióval meghatározott foltméretet.

Tehát a Gauss-referencia gömbre vonatkoztatott φ(x, y) fázissal felírt Õ(x, y) komplex amplitudó eloszlás képsíkon vett diffrakciós képének térbeli kiterjedése, alakja arányos Õ(x, y) távoltéri, Fraunhofer-diffrakciós képével. Mint említettük a Fraunhofer diffrakció kis pupilla mintavételezéssel is helyes eredményeket ad, emiatt kiszámítása nem igényel sok gépidőt. A fenti képlet felfogható egy kétdimenziós Fourier transzformációnak is. Ezt kihasználva, a fókuszfolt diffrakciós téreloszlását igen gyakran FFT (Fast Fourier Transform) algoritmussal szokták meghatározni, amely jelentősen gyorsabb még a Fraunhofer-integrálásnál is. Mivel a képsíkon elhelyezett négyzetrácson egyszerre határozza meg a téreloszlást, akkor célszerű a használata, ha kiterjedt területen vizsgáljuk a diffrakciós foltot. Ha csak egy pontban vagyunk rá kíváncsiak, célszerűbb a Fraunhofer-integrálást választani. A két módszer pontossága

hasonló, csak FFT-nél figyelni kell bizonyos mintavételi kérdésekre (ld. pl Goodman) Vizsgáljuk most meg a fenti integrálformula alkalmazhatóságának feltételét. R Taylor-soros közelítésében a másodrendű tagot tekintve hibának, a következő feltétel fogalmazható meg: 2 ( 1  x ′ 2 + y ′ 2 − 2 xx ′ − 2 yy ′  1 x ′ 2 + y ′ 2 − 2 xx ′ − 2 yy ′  λ >> x + y + z ⋅  = 3/ 2  8 8 x2 + y2 + z2 x2 + y2 + z2  2 2 2 ( ) ) 2 1 (xx ′ + yy ′) 2 z3 2 ≈ Az utolsó átalakítási lépésben alkalmazott közelítés akkor engedhető meg, ha x, y << D/2. Az egyszerűség kedvéért csak az y-z síkban vizsgálódva, a hiba felső határára (y := D/2-nél) a következő kifejezés adódik: y′ ≤ 2 2λ ⋅ l 3 / 2 10 ⋅ D = 0,7 ⋅ R Airy ⋅ l , λ ahová behelyettesítettük a következő alfejezetben ismertetendő Airy-rádiusz képletét (RAiry ≈ 1,22·λ·l/D), és (.<< λ)-t

kicseréltük ( ≤ λ/10)-el Ha l := 10 mm és λ := 550 nm, igen nagy értéket kapunk: y ≤ 100·RAiry! Geometriai aberrációk esetén, a fényenergia igen nagy területre szóródhat szét a fókuszfolt körül, azaz az integrált nagy y értékekre is meg kell határozni. A fenti feltétel azt jelenti, hogy az integrálformula egészen addig használható, amíg az energia zöme (kb. 80%-a) egy 100· RAiry sugarú körön belül koncentrálódik a képsíkon A maximális y becslésére használhatjuk a geometriailag számított RMS foltsugár értékét. A leképező rendszerek lineáris rendszerek, mivel a gerjesztés és válasz kapcsolatára érvényes a szuperpozíció elve (térben inkoherens megilágítás esetén ez az intenzitás viszonyokra igaz). A gerjesztés itt egyetlen, nulla méretű tárgypont (Dirac-delta), ennek megfelelően I a rendszer impulzusválasza, amit optikában pontszórás függvényének neveznek (PSF – Point Spread Function). A PSF-el kiterjedt

tárgyak diffrakciós képe is kiszámolható, ld alább Airy-folt, Strehl-arány Tökéletes, aberrációmentes optikai rendszernél (RMS OPD = 0) a fenti integrál kör alakú apertúrára analitikusan is meghatározható. A megoldás alakja Bessel-függvény, melynél az első zérushely tengelytől mért távolságát nevezik Airy-sugárnak (RAiry): RAiry = 0,61 · λ0 / NA (NA < 0,5 esetén jó, azaz amikor a Fresnel-közelítés érvényes), vagy – 42 – RAiry ≈ 1,22 · λ0 · l / D (NA < 0,3 esetén jó, azaz amikor sin x ≈ x), ahol NA a diffraktáló nyaláb numerikus apertúrája. Két, RAiry távolságra lévő folt az emberi szem számára még feloldható – ezt nevezik Rayleigh-felbontásnak. Végtelen távoli tárgy esetén az emberi szem két egymástól kb. 1 szögperc alatt látszó tárgypontot (pl csillagot) tud még egymástól megkülönböztetni. 1.2 ideális eset (2J1(πx)/(πx))2 [-] 1.0 I(0, 0) / I0 0.8 0.6 0.4 0.2 0.0 -4 -3 -2 -1

0 1 2 3 4 x [-] Köralakú apertúra Fraunhofer-diffrakciós képe (intenztitás eloszlása), ideális hullámfront (RMS OPD = 0) és aberrált hullámfront esetén (RMS OPD > 0). J1(x) az elsőrendű Bessel-függvény, ahol x′ 2 + y ′ 2 ⋅ 1,22 . R Airy Tökéletesen aberrációmentes optikai rendszernél a Gauss-referencia gömb középpontjában az intenzitás I0 értéke analitikusan is kiszámolható, a Fraunhofer-formulába x = y = 0, valamint OPD = 0-t helyettesítve: x≡ 2  U0 ⋅ D2  P  = 2 total ⋅ 3,67 . I 0 = π  R Airy ⋅ π  λ0 ⋅ l ⋅ 4  A fenti képletben alkalmaztuk RAiry képletét és, hogy a fénynyaláb összteljesítménye: Ptotal = π·U02D2/4. Az I(0, 0) / I0 hányadost Strehl-aránynak nevezik, ami egy aberrált optikai rendszernél azt mutatja meg, hogy a diffrakciós folt maximum intenzitása I(0, 0) hányadrésze az ideálisan elérhető, maximális értéknek. A Strehl-arányt elterjedten használják

diffrakciós korlát közeli rendszerek minősítésére, mivel ilyen esetekben a hullámfront aberráció kis növekedése nem annyira a diffrakciós folt méretét, mint inkább intenzitás arányait befolyásolja (pl. az RAiry-nél lévő minimumhely csak teljesen ideális leképezésnél zérus) Az RMS OPD < 0,07 λ0 Rayleigh-kritériumnak megfelelő Strehl-érték: I / I0 > 0,8. A diffrakció korlátos leképezés ilyen formában megfogalmazott feltételét Maréchal-kritériumnak nevezik. 2 Fókuszmélység, mélységélesség (diffrakció korlátos esetben) Diffrakció korlátos leképezésnél a fókuszmélység definíció szerint az a távolság, amennyivel ha egy ideális gömbhullám középpontjától a képsíkot eltoljuk, a hullámfront aberráció nulláról RMS OPD = 0,07 λ0–ra nő meg: n ⋅ λ0 δ=± , 2NA 2 – 43 – ahol „n” a közeg törésmutatója. Látható, hogy a fókuszmélység az NA négyzetével fordítottan arányos. Ha tehát NA-t

csökkentjük, δ sokkal gyorsabban nő, mint az Airy-folt Azaz NA megfontolt csökkentésével kis feldoldóképesség romlásért cserébe nagyobb fókuszmélység növekedést kaphatunk. A δ távolságra úgy is gondolhatunk, mintha ez az ideális diffrakciós folt optikai tengely (z) irányú mérete lenne. A Strehl-arány és az RMS OPD kapcsolata Kimutatható (ld. Born-Wolf), hogy kis aberrációk esetén a Strehl-arány nem függ az aberráció milyenségétől (a hullámfront alakjától), csupán az RMS értékétől: 2  2π  I′ 2 ≈ 1 −   ⋅ [RMS OPD] I0  λ0  Ez az összefüggés mutat rá az RMS OPD jelentőségére: kis aberrációk esetén (amíg a rendszer a diffrakciós korlát közelében van, azaz RMS OPD < 0,14 λ0), ez a geometriai optikailag, néhány sugár átvezetésével meghatározott mennyiség igen pontosan jellemzi az optikai rendszer diffrakciós viselkedését, és nincs szükség időigényes diffrakciós

számításokra! Ha a rendszer már nincs a diffrakciós korlát közelében, azaz RMS OPD > 0,14 λ0, kénytelenek vagyunk kiszámítani a Fraunhofer-integrált (közvetlenül, vagy FFT-vel). Túl nagy aberrációk esetén viszont mintavételezési problémák léphetnek fel. Ezt vizsgáljuk alább Pupilla mintavételezés hatása a Fraunhofer-közelítésre Mivel a Fraunhofer-képletben szereplő integrálást numerikusan végezzük, a kilépő pupillát diszkretizálni kell. Az integrál képletében a komplex kitevőben szereplő (x·x + y·y) tag a kilépő pupilla P és a képsík P pontjának távolságát közelíti (P az integrálás során letapogatja a kilépő pupillát). Numerikus integráláskor akkor nem követünk el nagy számítási hibát, ha két mintavételi pont között átlépve a P-P távolság jóval kevesebben változik λ-nál. Vizsgáljuk meg az egyszerűség kedvéért a kilépő pupilla távolterében az OPD(x, y)-vel jellemzett hullámfront

diffrakcióját (ui. a lencse képsíkjában ezzel arányos kép jelenik meg) Legyen N×N db mintavételi pont a pupillán, továbbá a képsíkon a Gauss-referencia gömb középpontjától mért legnagyobb távolság, ahol az integrálást még ki akarjuk számolni y. Gauss-referencia gömb y y P D/N P z ∆ A mintavételezési hibát okozó ∆ úthosszkülönbség kiszámítása a numerikus integrálásnál. – 44 – Ekkor két szomszédos mintavételi pont között mérhető távolság: D/N. Mivel a Fraunhofer közelítés miatt igaz, hogy z >> D, a két mintavételi pont között mért úthosszkülönbség ∆ értéke trigonometriailag (aránypárral) jó közelítéssel kiszámolható. Feltéve, hogy y > D: ∆≈ D y′ ⋅ . N z Azért, hogy a numerikus integrálásnál az integranduszban szereplő e-ados kifejezésben a fázis ne változzon túl sokat két mintavételi pont között, a következő feltételt tesszük: ∆ ≤ λ0 / 10. Az

egyenlőtlenségbe helyettesítve ∆ értékét, és az előbbiekben bemutatott RAiry kifejezését: y′ ≤ N ⋅ R Airy . 10 ⋅ 1,22 Miután a kifejezésből kiesett „z”, ez érvényes lencsék által fókuszált gömbhullámokra is. A szokásos 64×64-es mintavételezésnél ebből azt kapjuk, hogy: y ≤ 5·RAiry. A még néhány perc alatt kiszámolható mintavétel az 512×512-es, ahol y ≤ 40·RAiry-nek kell teljesülnie. Felmerül a kérdés, hogy a képsík mekkora területén számítsuk ki a téreloszlást, azaz y-t mekkorának válasszuk? Lencsék diffrakciós foltját akkora területen célszerű kiszámítani, ahol még jelentős mennyiségű energia van. Diffrakció korlátos rendszernél az energia 84% az RAiry sugarú körbe koncentrálódik (y = RAiry), tehát a fenti egyenlőtlenség automatikusan teljesül még kis mintavételezésnél is. Nagyobb aberrációk esetén közelíthetjük az energia zömét hordozó területet a szóródási folt RMS

rádiuszával. Ebből az következik, hogy a mintavételezés miatt a PSF kiszámítása transzverzális sugáraberráció függő lesz. Adott mintavételezés mellett, a legnagyobb megengedhető RMS foltméretre előírt feltételt a fenti képlet határozza meg. A túl nagy aberráció egy esetleges alulmintavételezés miatt meghamisíthatja a PSF értékét. Feltételünk sugáraberrációra vonatkozik, ami a deriválásos kapcsolat miatt nem számítható át egyértelműen OPD-re. Hozzávetőlegesen, ha az RMS OPD néhány lambda alatt van, a PSF számítás feltehetően pontos lesz néhányszor 100×100 sugaras pupillamintavétel esetén. Néhány lambdányi RMS OPD fölött diffrakciós integrálásról célszerű áttérni a szóródási folt transzverzális aberrációinak vizsgálatára, mert jelentősen csökken a számítási idő. Hatszögletű rekesz diffrakciós foltja (PSF), tökéletes kilépő gömbhullám esetén. Diffrakciókorlátosnak már nem tekinthető, de

még geometriai optikailag sem kezelhető (azaz sem RMS OPD-vel, sem RMS foltmérettel nem jellemezhető) rendszerek minősítésére használjuk a PSF-et (pl. Strehl-arány v adott sugarú körön belül mennyi energiát tartalmaz a diffrakciós folt). A különböző módszerek összefoglalását ld az alábbi táblázatban RMS OPD [λ] RMS foltsugár [RAiry] Minősítési jellemző Minősítési módszer 0 . 0,07 0 . 0,1 RAiry diffrakciókorlátos rsz. 0,07 . 0,14 0,1 . 1,0 RMS OPD hullámfront aberráció 0,14 . 1,0 1,0 . 10 Strehl-arány diffrakciós integrál 10 . 100 RMS foltsugár geometriai optika - Pontszerű tárgy leképezését minősítő módszerek és alkalmazásuk korlátjainak összefoglalása. – 45 – KITERJEDT TÁRGYAK LEKÉPEZÉSÉNEK DIFFRAKCIÓS VIZSGÁLATA Konvolúciós tárgyalásmód Az első előadáson azzal jellemeztük a lineáris optikai leképező rendszereket, hogy térben inkoherens (diffúz) megvilágítás esetén az

intenzitásra érvényes a szuperpozíció elve: Uo(x, y) = Uo(x, y)1 + Uo(x, y)2 Ii(x, y) = Ii(x, y)1 + Ii(x, y)2 , ahol „o” jelenti a tárgysíkot, „i”a képsíkot, 1 és 2 pedig két különböző tárgyat ill. képet Lineáris rendszerek valamilyen bemenetre (tárgy) adott válaszát (kép) felírhatjuk az impulzusválasz függvény (PSF) segítségével. Io(x, y) legyen a tárgy intenzitás eloszlása, Ii(x, y) a képé. Ha a rendszer pontszórás függvénye (optikában így nevezik az impulzusválaszt): PSF(x, y), ami ne felejtsük intenzitás eloszlás, a kép a következő konvolúciós integrállal írható fel: I i ( x ′, y ′) = ∞ ∞ ∫ ∫I i, id (u , v) ⋅ PSF( x ′ − u , y ′ − v) dudv = I i,id ∗ PSF . (konvolúció-tétel) − ∞− ∞ (Hogy a kép teljesítményviszonyai is helyesek legyenek, a fenti képletben a PSF-et az összteljesítményére kell normálni!) A konvolúciós módszert alkalmazzák kiterjedt tárgyak diffrakciós

leképezésére. Ha a leképező rendszer transzverzális nagyítása NT, az ideális kép kifejezhető Io-val is: I i,id ( x ′, y ′) =  x′ y′  1  , ⋅ I o  , 2 NT  NT NT  ahol a torzítást elhanyagoltuk (azaz NT = const. az egész képen) I PSF Ii Ii,id 0 y A konvolúció szemléltetése egy dimenzióban. Moduláció átviteli függvény (MTF) Fourier analízisből megtanultuk, hogy a konvolúció Fourier-transzformáltja a szorzás: F −1{Ii}= F −1{Ii,id}· F −1{PSF} (Itt a konzekvens tárgyalás végett írtunk inverz Fourier-transzformációt.) A PSF (inverz) Fourier-transzformáltját optikai átviteli függvénynek (OTF – Optical Transfer Function) nevezik. Ha az ideális kép egyetlen szinuszos rács „f” térfrekvenciával, annak Fouriertranszformáltja egy f-be eltolt Dirac-delta Ezt megszorozva az OTF-el, megakapjuk a valóságos kép Fourier-transzformáltját, ami értelemszerűen szintén Dirac-delta, egy komplex

értékkel, OTF(f)-el, megszorozva. A valódi kép tehát szintén „f” térfrekveniácú szinuszos rács lesz, amplitudóban átskálázva, fázisban eltolva. – 46 – ideális kép, M = 1 I általános kép, M < 1 Imax a = (Imax−Imin) / 2 M=a/b b = (Imax+Imin) / 2 Imin y 0 Ideális kép esetében a moduláció 1, legrosszabb esetben 0. A komplex OTF okozta fázistolást általában nem szokták figyelembe venni, csak az abszolút értékével foglalkoznak. Az OTF abszolút értékét moduláció átviteli függvénynek, MTF-nek nevezik (Modulation Transfer Function). Egy szinuszos kép modulációja f térfrekvencián: M( f ) ≡ I max − I min I max + I min A valódi kép modulációja az ideális képével és az MTF-el kifejezve: Mi(f) = MTF(f)· Mi,id(f) . Az MTF-et elterjedten használják kiterjedt tárgyat leképező rendszerek (pl. fényképezőgép objektív) minősítésére. A diffrakció korlátos rendszerek MTF görbéje nullára esik egy bizonyos

fcutoff vágási frekvencia fölött. Inkoherens megvilágítás esetén: D f cutoff = , λ0 ⋅ l ahol D a kilépő pupilla átmérője, l a kilépő pupillától a képsíkig mért távolság. Érdekesség, ahogy a vágási frekvenciához tartozó Λ rácsperiódus hogyan viszonyul az Airy-folthoz: Λ= 1 f cutoff = R Airy 1,22 . (Shannon-mintavételezés: 2dCCD = Λ ØAiry ≈ 5dCCD) fcutoff Diffrakció korlátos rendszer MTF diagramja, és a vágási frekvencia (térben inkoherens eset). – 47 – Ha az F −1{PSF} értékét felírjuk 0 térfrekvencián, az intenzitás eloszlás teljes képsíkra vett integrálját kapjuk, ami egyenlő a nyaláb összteljesítményével. Ezért ha a PSF-et lenormáltuk az összteljesítményre, az MTF zérus térfrekvencián definíció szerint mindig egységnyi. Az MTF görbe fenti, diffrakción alapuló definíciója (a PSF Fourier-transzformáltja) akkor működik, ha a PSF kiszámítására használt közelítés, algoritmus

érvényes. Mint megismertük, nagy aberrációknál ez nem feltétlenül igaz (minden attól függ, elég nagy-e a mintavételezés). Nagy aberrációk esetében a geometriai MTF-et szokták kiszámítani,. ahol nem a PSF, hanem a fénysugarakkal kiszámolt szóródási folt Fourier-transzformáltját veszik. Az így kapott MTF-et geometriai MTF-nek nevezik. Az MTF kiszámítása autokorrelációval A Fraunhofer-diffrakciónál megjegyezük, hogy a diffrakciós folt Ũi komplex amplitudó eloszlása gyakorlatilag az Õ(x, y) függvény Fourier-transzformáltja: Ũi ~ F{Õ} ⇒ Õ ~ F −1{ Ũi } Mivel a PSF a komplex amplitudó abszolút érték négyzete: a következő összefüggés írható fel: PSF =│Ũi│2 = Ũi · Ũi *, OTF = F −1{PSF} = F −1{Ũi ·Ũi *} = F −1{Ũi}F −1{Ũi } ~ ÕÕ és MTF ≡│OTF│. Itt felhasználtuk, hogy a szorzat Fourier-transzformáltja a Fourier transzformáltak konvolúciója. A kapott összefüggés értelmezése az, hogy az MTF

arányos a pupilla függvény autokorrelációs függvényének abszolút értékével Ha az autokorrelációs függvényt (ami teljesítmény jellegű mennyiség) normáljuk a nyaláb összteljesítményére, akkor MTF =│Õ*Õ │. Ideális diffrakció korlátos rendszernél OPD = 0, azaz az Õ pupilla függvény konstans; legyen egyben skalár is. Ekkor az autokorrelációs fügv egyszerű területszámítással kiértékelhető fy = ∆y / (λ·l) EP D ∆y MTF(0, 0) = 1 ∆y MTF(0, fy) < 1 MTF(0, fcutoff) = 0 Az MTF kiszámítása a pupilla függvény autokorrelációjával diffrakció korlátos esetben. – 48 – Térben koherens megvilágításnál a pontválasz függvény Ũi , amiből: MTF = F −1{ Ũi } = Õ, azaz maga a pupilla függvény. Ekkor az MTF-et nem az intenzitás, hanem a komplex amplitudó eloszlásra kell alkalmazni. Ilyen rendszereknél a vágási frekvencia feleakkora mint a térben inkoherens megvilágításnál: f cutoff = D . 2 ⋅ λ0

⋅ l fcutoff Diffrakció korlátos rendszer MTF diagramja, és a vágási frekvencia (térben koherens eset). JÖVŐ ÓRÁN Az optikai tervezés menete: gyártási megfontolások, specifikáció, beszerzések Optikai tervező programok: működés, főbb jellemzők Fontosabb leképező rendszerek: optikai rendszer fajták, leképezési jellemzők – 49 – 7. ÓRA ISMÉTLÉS Skalár diffrakció: Fresnel és Fraunhofer közelítés, gömbhullám diffrakciója Diffrakció lencserendszerben: pontszórás függvény (PSF) Kiterjedt tárgyak leképezése: konvolúció, MTF AZ OPTIKAI TERVEZÉS MENETE Gyártás kontra vásárlás Háromtagú rendszer, öt készlet (kb. árak Magyaroszágon, 2005) Optikai tervezés 500.000 Ft (4000 Ft/óra, kb 1 mérnökhó) Lencse gyártás 200.000 Ft (≈ 7000 Ft/db + szerszámköltség) Lencse rétegezés 200.000 Ft (≈ 100000 Ft/db) Foglalás tervezés 200.000 Ft Foglalás gyártás 200.000 Ft Szerelés, bemérés 100.000

Ft Összesen 1.400000 Ft Edmund Scientific-nél megvásárolva: 1 db síkdomború lencse (dia. 20, efl 60mm+MgF2): €33 ≈ 8300 Ft 1 db háromtagú okulár: €50 ≈ 13.000 Ft 1 db akromát (dia. 20, efl 60mm+MgF2): €65 ≈ 16300 Ft 1 db minőségi 10x mikr.obj: €320 ≈ 80000 Ft Tervezési előkészületek Specifikáció Kereskedelmi forgalomban kapható? Kereskedelmi forgalomban kapható elemekből összerakható? Részben kereskedelmi forgalomban kapható részben gyártott elemekből összerakható? Teljesen egyedi tervezés, gyártás – 50 – Főbb specifikációs adatok, követelmények • hullámhossz tartomány • nagyítás (tartomány) • tárgyszög • tárgytávolság (tartomány) • numerikus apertúra • f-szám (relatív nyílás) • felbontóképesség (képátló/foltméret) • mélységélesség • képminőség (RMS foltméret, RMS OPD, MTF adott frekvenciákon, torzítás) • szerkezeti hossz (első lencsefelület homlokpontjától az

utolsóig) • leképezési hossz (tárgytól a képig) • hátsó fókusztávolság • transzmisszió, roncsolási teljesítmény küszöb • szórt fény • szerelhetőség • mérhetőség • környezeti feltételek (hőmérsékleti tartomány, nyomás, porvédelem stb.) • a legfontosabb: az ár Beszerzési lehetőségek Külföldi vásárlás Magyarországi gyártás www.edmundopticscom (közepes ár) Geodesy Kft. (foglalás) www.mellesgriotcom (drága) KAPS Hungaria Optikai Kft. (lencsék+réteg) www.thorlabscom (igen drága) Schmidt&Bender Kft. (lencsék + foglalás) www.linoscom (európai) Europtik Kft. (prezíciós lencsék + rétegezés) www.cdhcorpcom (olcsó, kínai) OptiLab Kft. (rétegezés) www.opticsorg (optika ált.) MikroT Kft. (fotolitográfia) www.pgo-onlinecom (síkoptika) BME Gépgyártástechnológia (UP eszterga) www.newportcom (vegyes optika) DirectLine Kft. (UP eszterga + prec mech) www.optimaxsicom (lencse protot.)

www.dymaxcom (UV ragasztók) – 51 – OPTIKAI TERVEZŐ PROGRAMOK Mire jók a tervező programok? • • • • Kereskedelmi forgalomban kapható rendszerek minősítése. Ker. forg-ban kapható elemekből összeállítható rendszer tervezése, minősítése Egyedi tervek készítése, minősítése és a gyártási hibák hatásainak modellezése. Eddig nem modellezett jelenségek képminőségre gyakorolt hatásának vizsgálata. És mire nem jók? • A programok a specifikációt nem találják ki maguktól • Nem gondolkoznak helyettünk a feladat megoldásán (nincs intuíciójuk) • A hibáinkat nem javítják ki (sőt, ritkán ők is hibáznak) • • • • Alapos, pontos mérnöki ismeretek Nagy tervezési tapasztalat (a létező optikai rendszerek ismerete) Súgó rendszer használata Állandó ellenőrzés (a tervezési folyamat állandó nyomonkövetése) A mai tervezőprogramok gyakorlatilag bármilyen specifikációnak megfelelő leképező rendszert

képesek kiszámolni. A gyakorlott és gyakorlatlan tervező eredményei közötti különbségek a gyárthatóságban és az árban mutatkoznak meg. Tervezési tapasztalat birtokában emellett gyorsabban tudunk dolgozni és egyszerűbb konstrukciókat tudunk alkotni. A tervező programok fajtái Manufacturer Optical design Illumination analysis Other Optical Research Assosiates (USA) CODE V LIGHT TOOLS - Zemax Development Corp. (USA) ZEMAX ZEMAX - Lambda Research Corporation (USA) OSLO (OSLO EDU - free) TRACEPRO LENSVIEW Radiant Imaging (USA) - - PROSOURCE Breault Research Organization (USA) - ASAP - Optis (France) SOLSTIS SPEOS OPTICALC O++ (France) - APILUX - Wolfram Research, Inc. Linos (Spindler & Hoyer) (USA) (Germany) OPTICA (with MATHEMATICA) - - WinLens (free) GLASS MANAGER - + lézer rezonátor tervező + hullámvezető tervező (planár, csatorna, szál) + hullámoptikai tervező (pl. diffraktív optika, diffúzorok)

Tervezési lépések • • • • • • • Specifikáció elkészítése Kiindulási lencserendszer opto-mechanikai modelljének elkészítése Optikai minősítő eljárások alkalmazása A leképezés jellemzőinek javítása (optimalizáció) Gyártási hibák hatásának vizsgálata a leképzésre (tűrésszámítás) Ez eredmények grafikus vagy szöveges megjelenítése Tervdokumentációk készítése (ISO 10110 szabvány szerint) – 52 – Sugárcélzási fajták • Rendes sugarak: adott tárgypontból megcélozzuk a belépő pupilla egy pontját • Iteratív sugárak: egy adott tárgypontból indított sugarat (általában ez a fősugár) iteratíven annyiszor vezetünk át a rendszeren, amíg el nem találja a referencia felület adott pontját (ez általában az apertúra rekesz) Relatív koordináták • • • • Tárgytér mérete: Belépő pupillán a nyaláb mérete: Tárgypont relatív koordináta: Pupilla relatív koordináta: OBH

(félátmérő) [mm] EBR (félátmérő) [mm] FBY = y / OBH [-] FY = y / EBR [-] Pupilla mintavételezés belépő pupilla sugár készlet RMS foltméret, RMS OPD, PSF, MTF számításához ehhez hasonlóan osztjuk fel a belépő pupillát. Az osztások száma funkciónként változtatható Optimalizáció (azaz tervezés) Az optikai rendszer leképezés minőségének iteratív javítása adott szerkezeti paraméterek (változók ) automatizált javításával. Optimalizációs változók Azon konstrukciós paraméterek összessége, amelyeket az optimalizáció során automatikusan kívánunk változtatni (pl. görbületi sugár, lencse vastagság stb) Optimalizációs operandusok Azon optikai jellemzők összessége (ld. specifikációk), amelyet az optimalizáció során kívánt értékre szeretnénk beállítani (pl. effektív fókusztávolság, szóródási folt méret, NA stb) Hibafüggvény Az operandusokból négyzetes összegzéssel előállított skalár értékű Φ

függvény, amely nullához tart, ha a rendszer közelít az előírt tulajdonságokhoz. Magukat az operandusokat is úgy kell kialakítani, hogy nullához tartsanak a rendszer javulásával: m Φ( x1 , x 2 , x3 , K , x n ) = ∑ w i ⋅ f i2 ( x1 , x 2 , x3 , K , x n ) , i =1 ahol wi a tervező által beállított súlyozó tényező, amely arra szolgál, hogy a különböző nagyságrendű operandusokat közelítőleg azonos értékre hozza, hogy egyformán javuljanak az optimalizáció során. fi jelöli az „m” db operandust, xj pedig az „n” db változót A – 53 – operandusok bonyolult múdon függnek a változók értékeitől, ezt fejezi ki a fenti függvénykapcsolat. A program az optimalizáció jóságát a Φ mennyiséggel jellemzi Csillapított legkisebb négyzetek módszere A legkisebb négyzetek módszerével a Φ hibafüggvény lokális minimumát keressük úgy, hogy a változókból alkotott xk vektort kis ∆xk értékekkel csökkentve, Φ értékét

kis ∆Φ értékekkel csökkentjük. („k” – az iterációs index) Alapegyenlet: A·∆x = −f, ahol A a derivált mátrix: Ai,j = ∂f i ∂x j Ez az egyenlet általában túlhatározott (m > n), azaz ebben a formában nem megoldható. Csak egy olyan megoldást lehet találni, ahol ∆x minimalizálja az eltérést (r) a megoldástól: A·∆x + f = r , ahol │r│2 = r T· r = min. keressük Új alapegyenlet: ATA ·∆x = −AT·f (Ezt nevezik Gauss-transzformációnak.) START k = 0 ; x0 vektor megadása Ai,j = ∂f i derivált mátrix meghatározása ∂x j ATkAk ·∆xk = −ATk·fk lineáris egyenletrendszer megoldása ∆xk-re xk+1 = xk + ∆xk k = k+1 Φ(xk) elég kicsi? N I STOP Azért, hogy túl nagy ∆xk lépések ne legyenek, egy csillapító tagot adnak az egyenletekhez, ezzel meggátolják azt, hogy véletlenül át ne lépjünk egy lokális minimumot. Ez a csillapított legkisebb négyzetek módszere (Damped Least Squares – DLS). Fontos, hogy

olyan változókat (szabadsági fokokat) definilájunk, amelyekre a hibafüggvény nem invariáns! – 54 – Globális optimalizáció • • • • Hammer-módszer Genetikai algoritmusok Adaptív szimulált hőkezelés (ASA) „Global explorer” A súgó használata Enélkül nem lehet megtanulni a program használatát, annyira összetett. TIPIKUS OPTIKAI RENDSZEREK ÁTTEKINTÉSE Objektív térkép (végtelenből végesbe történő leképezés esetén) W.J Smith, Engineering an Optical system, SPIE OE Magazine, 2002 Optikai rendszer források • • • • Smith, Modern Lens Design: A Resource Manual, McGraw-Hill Laikin, Lens Design, Marcel Dekker Walker, Optical Engineering Fundamentals, McGraw-Hill OSLO, Pre. Ed, 61: Cox-, Walker-, Smith-adatbázis, Edmund, Linos stb adatbázisai – 55 – 8. ÓRA ELŐADÁSON BEMUTATOTT RENDSZEREK Kétszerdomború kondenzor Megfigyelhető az óriási nyíláshiba. A fókuszsíkba helyezett tárgyat emiatt inhomogén módon

világítja ki. Mindemellett a lencse a síkdomború lencsékhez képest nehezebben gyártható A bemutatott két kondenzor változat NA-ja és fókusztávolsága (azaz főbb paraxiális jellemzői) azonosak az összehasonlíthatóság kedvéért. Kétszerdomború kondenzor, paraxiális képsík. Szóródási folt paraxiális képsíkban. Képsík kb. a hátsó fókuszsíkban Szóródási folt kb. a hátsó fókuszsíkban Kondenzor két síkdomború lecséből Egyszerű felépítés, könnyű gyárthatóság mellett jelentősen kisebb nyíláshiba. A tárgy megvilágítottsága sokat javult. Nyíláshibán kívül egyéb aberrációkra nem korrigált Képsík paraxiális képsíkban. Szóródási folt paraxiális képsíkban. – 56 – Képsík kb. a hátsó fókuszsíkban Szóródási folt kb. a hátsó fókuszsíkban Emberi szem Kék színre sokkal rosszabb a feloldás mint zöldre vagy pirosra. A szem legnagyobb felbontóképességét kb. Ø3 mm-es pupillánál éri

el, alatta a diffrakció, felette a geometriai aberrációk dominálnak. A szem egymáshoz képest kb 1 szögperc alatt látható tárgypontokat képes megkülönböztetni (kb. 0,1 mm a tisztánlátás távolságán azaz 250 mm-en) A szem modellje W. J Smith, “Modern A szem szóródási foltja a retinán Ø3 mm-es Optical Engineering”-beli modellje alapján. pupilla esetén. A kék szín defókuszáltságán jól látható a longitudinális színhiba. A pupilla mérete függ a megvilágítástól. A 3 mm-es átmérőt kb 73 candela/m2 fénysűrűség esetén éri el (ez kb. a borult égboltnak felel meg) Akkor a leképezés diffrakció korlátos, a diffrakciós folt sugara 4 µm. A szem a látómezejének csak a középső kb ±2°-os tartományán lát élesen (ez esik a retina sárgafoltnak nevezett részére), itt esik a látásélesség a maximum felére. A sárgafolton a legsűrűbb a legérzékenyebb receptorok, a csapok eloszlása A csapok távolsága kb. 2 µm, ami

meglepően jól illeszkedik a 4 µm-es diffrakciós folthoz (A Shannonféle mintavételezési törvény alapján az optika által átvitt legnagyobb térfrekvencia periódusának fele kell hogy legyen a detektorok távolsága, és az eddig tanultak alapján ez a periódus hossz kb. az Airy-folt sugara) A szem teljes tárgyszög tartománya ±110 ° vízszintesen. A szem levegőre vonatkoztatott effektív fókustávolsága 17 mm A retinán mérve a térfrekvenciát, az átlagos szem kb. 140 vonalpár/mm-t (÷ 07 vonalpár/szögperc) old fel (szinuszos tárgy esetén). Négyszögjel-jellegű (azaz nem szinuszos) tárgy esetén nagyon jó szem akár 280 vonalpár/mm-t (÷ 1.5 vonalpár/szögperc) is feloldhat ideális körülmények között. – 57 – 1.2 AIM MTF Diffrakció korlát Moduláció [-] 1 0.8 0.6 0.4 0.2 0 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1 Térfrekvencia [vonalpár/szögperc] Az átlagos emberi szem optikájának MTF görbéje Ø3 mm pupilla

esetén, polikromatikus fényben. (Emlékeztetőül: az MTF a szinuszos tárgy moduláció átvitelét mutatja) Az AIM (Aerial Image Modulation) görbe adja meg a retinán ahhoz szükséges modulációt, hogy a szem az adott térfrekvenciájú képet még éppen érzékelni tudja. (Az AIM görbe azért szükséges, mert pl. egy CCD detektor mátrixszal ellentétben a szem esetén nem tudjuk megmérni, hogy milyen modulációval látja az illető a képet, csak azt tudjuk, hogy látja-e vagy sem.) Az AIM és MTF görbék metszéspontja határozza meg a legnagyobb feloldható térfrekvencia értékét. Az AIM görbét W J Smith, “Modern Optical Engineering” monográfiája 5. fejezetében közölt ábrából származtattuk Ragasztott duplet #1 (akromát) végtelenből végesbe, kis tárgyszög mellett Általában az akromátok (mint ez is) kis (néhány fokos) tárgyszögre, végtelenből véges leképzésre vannak korrigálva (általába a rekesz a lencsén van). Alacsony a

nyíláshibájuk, színhibájuk, kómájuk. Mérsékelt NA mellett még diffrakció korlátos a leképezés Az alábbiakban bemutatott „ragasztott akromát #1 viselkedése nagy tárgyszög mellett”, és „ragasztott duplet #2 (akromát) mint „landscape” (tájkép) lencse” esetekben a lencsék NA-ja és effektív fókusztávolsága azonos az összehasonlíthatóság érdekében. Ragasztott akromát optimális leképezéshez Ragasztott akromát polikromatikus szóródási megfelelően rekeszelve, kis tárgyszög esetén. foltja A leképezés kb ±3° tárgyszög tartományon belül diffrakció korlátos. – 58 – Ragasztott akromát fókuszsíkjának eltolódása a hullámhossz függvényében. Jól látható, hogy két hullámhosszon azonos a fókuszsík helyzete. A görbe parabolikus jellege a törésmutató diszperzió másodfokú görbével leírható jellegéből származik. Ragasztott duplet #1 (akromát), mint nagyító (lupe) Megfordítva, és a szem helyére

kitolt rekesszel nagyítóként is kiváló az akromát. A lupe nagyítása 250 mm / effektív fókusztávolság. (250 mm a „tisztánlátáslátás” távolsága, adott tárgy esetén itt a legnagyobb a retinán a kép. Ennél közelebb már fárasztja a szemet, távolabb fix tárgyméret esetén csökken a tárgyszög, ezzel együtt a képméret.) Ragasztott akromát mint nagyító. A képsík virtuális, és a szem pupillájától (ld. a kép jobb oldala) −250 mm távolságban (balra) helyezkedik el. Tárgyszög ±10°, szem pupilla Ø 4 mm. A szóródási folt RMS mérete (folytonos görbe) a tárgymagasság függvényében. Az RMS OPD (szaggatott görbe) mutatja, hogy jelen esetben a leképezés nem diffrakció korlátos, de ahhoz (0.07 λ) közel van Ragaszott akromát #1 viselkedése nagy tárgyszög mellett Nagyobb tárgyszögekre hirtelen megnő az akromát foltmérete a nagy képmező hajlás és asztigmatizmus miatt (ld. a transzverzális sugáraberrációt leíró

harmadrendű polinomot: az asztigmatizmus négyzetesen függ a tárgymérettől). – 59 – Ragasztott akromát nagy, ±20°-os tárgyszög esetén. A hatalmas képmező hajlás és elrontja a leképezés asztigmatizmus minőségét. A szóródási folt RMS mérete (folytonos görbe) a tárgymagasság függvényében, az optimális görbe képfelület esetén. A leképezés távolról sem diffrakció korlátos. Ragasztott duplet #2 (akromát) mint „landscape” (tájkép) lencse Kb. feff/5-be kitolt rekesszel, megváltoztatott (hajlított) alakkal az akromát akár ±20°-os szögben is elfogadható leképzést ad. A képalkotás itt közel sem diffrakció korlátos (még a tengelyen sem, a megnövekedett nyíláshiba miatt), de a foltméret kicsi marad nagy tárgyszög tartományon belül (a csökkentett asztigmatizmus, kóma és képmezőhajlás miatt). Tájkép lencse (optimális alakú ragasztott A szóródási folt RMS mérete (folytonos akromát kitolt rekesszel) nagy,

±20°-os görbe) a tárgymagasság függvényében sík képfelületen. Hála az optimalizált tárgyszög esetén. lencsealaknak és a kitolt rekesznek, a leképezés közel diffrakció korlátos. GYAKORLATON BEMUTATANDÓ RENDSZEREK Okulár (szemlencse) Mikroszkóp objektív Lézerdióda kollimátor Triplet (Cooke-, Tessar-fényképező objektív) Gauss-objektív (biotar) Halszem-optika (fisheye) Scanner-lencse (f-theta objektív) Cassegrain-tükrös távcső Üveglemez, ferde lemez Telecentrikus képátvetítő Fourier-objektív, retrofocus objektív, teleobjektív, zoom – 60 – Okulár betekintési távolság: tárgyméret: torzítás: felbontás: nagyítás: 10-25 mm ≈ Ø20 mm 2-5% ≈ 1000 pont 5×-40× egyéb: szabv. külső átmérő „kihuzat” (pl 23 mm DIN), tubushossz (160 mm DIN) típusok: Huygen Ramsden Kellner RKE Orthoscopic Plössl Erfle Mikroszkóp objektív NA: nagyítás: képméret: felbontás: 0,1-1,25 4×-100× ≈ Ø 20 mm ≈ 1000 pont

egyéb: szabv. tubushossz, azaz képtávolság (160 mm DIN), telecentrikus, esetleg 0,17 mm fedőüvegre korrigált (20×-nél v. fölötte) szabv. menet (0,8"×36 TPI, 55° Whitworth, DIN) típusok: alap (akromatikus, aplanatikus) 65% apo (apokromatikus) semi-plan (közelé sík képfelület) 85% plan (sík képfelület) 95% immerziós (100×-nál mindenképpen, de akár 40×-nél is) tükrös (UV) végtelenre korrigált Lézerdióda kollimátor NA: feff: képszög: 0,12-0,7 1-14 mm ±0,5° lézerdióda asztigmatizmus: lézerdióda divergencia: 5-10 µm kb. 15°×70° félértékszélesség – 61 – Petzvál kb 1000 pont 1% Triplet Tessar felbontás: torzítás: kb 3000 pont (f/16-nál) ; 2000(f/3.5-nél) 1-2% cooke 3000(f/4) jobban vinyettál Gauss-objektív 5000 pont (f/2.8-nál) 0,5-1% – 62 –